数字集成电路自动测试仪研制和设计 毕业论文.docVIP

数字集成电路自动测试仪研制和设计 绪论 1.1 该课题的研究意义 在高校的教学实验环节中，需要大量地使用一些基本系列的集成芯片。目前，市场上存在一种可以对TTL、CMOS数字芯片进行检测的工程应用型测试仪，但是考虑到其价格较贵，较难满足学生人手一台。因此，从节约经费、提高利用率的角度出发，我们采用单片机设计了集成芯片测试系统。 、、89C51的P1、P3I/O口：既可作为输入口，又可作为输出口;为检测奠定了重要的基础。检测的基本原理是：根据芯片的功能、、TTL45, MOS/5000系列的门电路，计数器等器件。 2.2.3 电路工作过程 （1）待测芯片放入底座上，芯片底座24脚分别连接到3片CD4051共24脚上，4051为8路模拟开关，8路输入信号，一路输出由使能信号及控制信号控制每一路的输出，使能信号由单片机通过573锁存器控制每一个模拟开关的工作，CD4051每一路的输出CMP分别输入到LM311比较器进行比较，比较后的信号LM311 OUT输入到单片机P1.1口，直到比较完成，确定待测芯片管脚数目，这样就对待测芯片进行供电。当知道待测芯片的管脚数目后，通过单片机写程序，由单片机P0口输入到573锁存器，再通过三极管8550的导通控制高电平的输出到芯片电源位置，待测芯片上电工作。 （2）单片机输入真值表到待测芯片进行比较。单片机通过573锁存器输入到待测芯片，由P0口每输入到一573后，573暂时将其所存，全部输出完成后，此3片573的打开信号由单片机通过138译码器控制，三573全部打开，数据输入到芯片上，检测芯片的输出。此数据通过245双向收发器输入到单片机，此过程中245的使能信号也有138译码器控制，单片机的输出与输入进行比较，如果相同，则此芯片正确，单片机发出指令，有245输入到LCD显示屏上进行逻辑符号与真值表的显示，此芯片检测完成。如果比较不相同，单片机继续输出下一组真值表数据，重复上述步骤检测， 3硬件部分介绍 3．1 AT89S52微处理器 对单片机的要求是能够方便地扩展显示器、键盘、外设，其他并无特殊要求。常见的单片机有8051系列的单片机、8096系列的单片机、凌阳的SPCE061A单片机等等。由于8051系列的单片机应用范围广，价格便宜，功能齐全。因此我们选用了的8051系列的单片机。 3．1．1 简介 我们采用8051系列的AT89S52作为CPU，AT89S52是一种带K字节可编程可擦除只读存储器（FPEROM—Flash Programmable and Erasable Read Only Memory）的低电压，高性能CMOS8位微处理器。该器件采用ATMEL高密度非易失存储器制造技术制造，与工业标准的MCS-51指令集和输出管脚相兼容。1）MCS-51兼容 ；）））5）））））10）11）12）13）AT89S51的芯片VCC：供电电压。GND：接地。P0口：P0口为一个8位 AT89S51的芯片引脚排列与名称漏极开路双向I/O口，P1口：P1口是一个内部提供上拉电阻的8位双向I/O口，P1口缓冲器能接收输出4个TTL门电流。P1口管脚写入1后，被内部上拉为高，可用作输入P2口：P2口为一个内部上拉电阻的8位双向I/O口，P2口缓冲器可接收/输出4个TTL门电流，当P2口被写“1”时，其管脚被内部上拉电阻拉高，可作为输入。在作为输出时，P2口的管脚被外部拉低，将输出电流P3口：P3口管脚是带内部上拉电阻的8位双向I/O口，可接收输出4个TTL门电流。当P3口写入“1”后，它们被内部上拉为高电平，并用作输入。作为输入，由于外部下拉为低电平，P3口将输出电流，这是由于上拉的缘故。P3口也可作为AT8951的一些特殊功能口，如下 各端口引脚与复用功能表 　　　　　　　复用功能 　　　　P3.0 　TXD（串行输入口） P3.1 　RXD（串行输出口） P3.2 　/INT0（外部中断0） P3.3 　/INT1（外部中断1） P3.4 　T0（记时器0外部输入） P3.5 　T1（记时器1外部输入） P3.6 　/WR（外部数据存储器写选通） P3.7 　/RD（外部数据存储器读选通） RST：。 ALE/PROG：当访问外部存储器时，地址锁存允许的输出电平用于锁存地址的地位字节。在FLASH编程期间，此引脚用于输入编程脉冲。引脚 /PSEN：外部程序存储器的选通信号。/EA/VPP：/EAFLASH编程期间，此引脚也用于施加V编程电源（VPP）。 XTAL1：振荡放大器的输入及内部时钟工作电路的输入。 XTAL2：振荡放大器的输。2 可驱动8位共阴数码管或64只独立LED和64个按键