Magix X射线荧光光谱仪分方法的制定步骤.doc

MagiX X射线荧光光谱仪分析方法的制定步骤 进入XRF-SYSTEM SET UP界面 鼠标点《分析程序》《APPLICATION》 《新建分析程序》《》 《输入分析方法名称》 ( 如rock) 《道组》 执行《OK》 进入如下界面，并按如下顺序设置： General (总设置) identification schems(编号方案) conditions(条件) Sample description(样品描述) preference(优先) compounds(化合物) channels(道) quantitative program(定量分析程序) qualitative program(定性分析程序) A.General和identification schems两项一般可以跳过，不用输入。 B.鼠标点conditions(条件)：XRF-vacuum lock time(s)(XRF真空锁定时间，系指样品杯放进样品室中，盖上盖板后预抽真空时间，粉末压片如水泥工业中生料可设定10秒，而钢铁或熔融片通常设4秒即可)。delay time(s)(延迟时间系指试样进入测量位置后再抽真空的时间，通常设置2秒)。Spinner on(自旋)，通常没定自旋，以防止样品不均匀。Measure in decreasing energy order，该项通常按能量从大到小进行测量，但若需测定氯或硫时，即不选用该项，应使氯先测。 C.鼠标点sample，根据试样的物理状态选用bead(熔融块)、liquid(液体)、presed power(粉末压片)、solid(固体)。选用bead(熔融块)、liquid(液体)、presed power(粉末压片)时，要输入样品重量、熔剂、或溶剂或粘结剂或助磨剂的重量。 需要指出的是以何种物理形态样品进行测量，需依据对分析方法所要求的准确度和精度、分析时间、标样等因素确定。 D.鼠标点compounds(化合物) ， 从add compound化合物表中加入所要分析的化合物和率值，如Al2O3,SiO2……KH等加进去。若分析以元素表达，也可从周期表中直接点所要分析的元素。无论以何种方法输入，总是按分析报告的顺序加入。 E.鼠标点channels(道) ，通常化合物选定后，进入道参数可以见到软件给出的参数。但要根据样品实际情况，选择所用分析线(line)，如K(、L(，kV和mA，晶体和滤光片，angle(2()、分析时间、PHD(脉冲高度分析器)在MONITOR一档中选择MONITOR。这些参数的选择可参考附录1。或按软件所推荐的条件进行测量。 F.鼠标点quantitative program(定量分析程序)，最后确定分析时间。存盘后退出。 G.标样浓度(在界面上以两个天平法码表示)栏，选择分析方法(rock)名称， 将标样名称加入，并输入标样各组分浓度。 进入XRF-MEASURE ANALYSE界面，选择测量(MEASURE)，再用鼠标点标样测定栏(以两个天平法码表示)，然后鼠标点分析方法(rock)名称，即在右侧显示标样名，将待测标样放进试样室，鼠标点标样名后，再点MEASURE。按此将全部标样测完。 再进入XRF-SYSTEM SET UP界面，在《APPLICATION》栏中打开校正曲线计算程序(或用鼠标点计算器形象图)，用鼠标选定分析方法(rock)名称，在出现的界面上，在待测元素上方，用鼠标点之，使待测元素档呈深色，再用鼠标点下方的计算(CALCULATE)，检查每个待分析元素的曲线，每个标样的计算结果和化学值之间差是否满足要求。若某元素不满足要求，如Si。则在本计算界面的下方，鼠标点Si后，Si档呈深色，再点ADD，从(栏中点Al，OK后再计算，以此类推。 亦可用理论(系数，即在下方用鼠标点所要计算的元素，再点理论(theory)，进入理论(系数计算界面，在calculate alphas上用鼠标点之，然后执行OK。粉末压片法较少使用理论(系数法。熔融法和金属样品用理论(系数法。 经