多晶体X线衍射分析方法.pptVIP

* 一、X射线测角仪（6） 2．测角仪衍射几何 测角仪有独特的衍射几何，关键问题是： 图4-7 测角仪的聚焦几何 1-测角仪圆 2－聚焦圆 试样 1）满足布拉格反射条件； 须使样品转θ角，计数管转 2θ角；实现θ- 2θ连动， 即转动角速度比为1:2。 可实现 入射角＝反射角 衍射仪法：只有平行于试样表面的（HKL）晶面才可发生衍射。这与粉末照相法不同。 * 一、X射线测角仪（7） 2）满足聚焦条件： 为达聚焦目的：须使X光焦点S、样品表面、计数器接收光阑 F 位于同一个“聚焦圆” 上。 图4-7 测角仪的聚焦几何 试样 2－聚焦圆 1-测角仪圆 * 理想情况：试样面应弯曲（与聚焦圆同曲率），完全聚焦。 平板试样：不同部位M、O、N处平行于试样表面的（hkl）晶面，可把各自反射线会聚到 F 点附近（近似聚焦）。 2θ 样品 衍射Ｘ射线 Ｘ射线源 计数器 入射Ｘ射线 布拉格–布伦塔诺(Bragg-Brentano)的聚焦法（B-B法） F O M N * 一、X射线测角仪（8） 测量时，计数器 F 沿测角仪圆移动（并不沿聚焦圆移动）。 在计数器 F移动中，聚焦圆半径时刻在变化的。 随2θ增加，聚焦圆半径 r 减小； 可证： 图4-7 测角仪的聚焦几何 2－聚焦圆 1-测角仪圆 R－测角仪半径 当θ= 0时，聚焦圆半径为∞; 当θ＝90o时，即 2r＝R。 * 一、X射线测角仪（9） 3．测角仪的光学布置，如图4-8所示 线状焦点 S ：尺寸1.5mm x10mm，长边与测角仪中轴平行。 若与靶面成3o角出射，则光束有效尺寸：0.08mm×l0mm。 图4-8 卧式测角仪光学布置 线焦点方向 平行 测角仪中心轴 * 一、X射线测角仪（10） 梭拉光阑S1和S2：由一组平行、间隔很密的重金属（Mo）薄片组成。尺寸：长32mm，厚0.05mm，间距0.43mm。 薄片与测角仪平面平行，可遮挡倾斜 X射线，控制X 射线束发散度在1.5o左右。 图4-8 测角仪的光学布置 梭拉光阑S2 梭拉光阑S1 控制此方向发散度 * 一、X射线测角仪（11） 发散狭缝 K、防散射狭缝 L、接收狭缝 F 作用：均为控制X射线束水平发散度。 发散狭缝 K ：控制入射线在试样上照射面积。 防散射狭缝 L ：可排斥来自样品以外辐射，改善峰背比。 狭缝大小：均以度计，如：20、10、0.50等，且取值相等。 测角仪的光学布置 防散射狭缝L 发散狭缝K 接收光阑F * 一、X射线测角仪（12） 接收光阑 F 作用：控制进入计数器的衍射强度。 较大的狭缝光阑 F ：衍射线强，易探测到弱衍射线，但狭缝过宽，使分辨率减低。 接收光阑 F大小：用mm表示，如：0.1mm、0.2mm等。 接收光阑F 测角仪的光学布置 * 衍射仪的几何光学布置 测角仪的光学布置： 入射X射线 索拉狭缝S1 索拉狭缝S2 发散狭缝K 防发散狭缝L 接收狭缝F 测角仪的光学布置 * 二、X射线探测器与纪录系统 X射线探测器（计数器）： 作用：接收自样品的X光信号，并转变为瞬间脉冲电信号。 计数器：由计数管及其附属电路。 X射线探测器原理：均基于X射线能使原子电离的特性。 原子可为：气体（如：正比计数器、盖革计数器）、 固体（如：闪烁计数器、半导体计数器）。 主要性能指标：计数损失、计数效率和能量分辨率。 * §4-4 X射线衍射仪的常规测量 * 一、计数测量方法（1） 衍射仪计数测量：有连续扫描和（步进）阶梯扫描两种。 1. 连续扫描：计数器与计数率仪连接 计数器以θ- 2θ联动方式，在选定2θ范围 从低角向高角方向扫描，测量各衍射角的衍射强度，获得 I – 2θ曲线。 优点：速度快、工作效率高，全谱测量，用物相定性分析。 连续扫描测量精度：取决于扫描速度和时间常数RC。故要合理选择两参数。 * 连续扫描曲线 连续扫描曲线：衍射线相对强度（CPS）随2θ角变化曲线。 图4-13 连续扫描测得的钨酸锆粉末衍射花样 * 一、计数测量方法（2） 2. 步进（阶梯）扫描：将计数器与定标器连接 ① 计数器转到某 2θ 角不动，用定时计数法或定数计时法，测出平均计数率，即该2 θ角处衍射强度； ② 计数器按一定步进宽度（角度间隔）和步进时间转动，逐点测量各2 θ角衍射强度，绘出衍射图。 优点：因不用计数率计，无滞后效应，故测量精度高； 虽每点测量时间长，但总计数大，计数统计波动小