材料学中常用分析方法第五讲 SPM 有关金属材料分析手段.pptVIP

材料学中常用的分析方法Instrumental Analysis in Materials Science 第五讲 扫描探针显微镜 (SPM) ： 扫描隧道显微镜, STM 原子力显微镜, AFM 磁力显微镜, MFM 近场扫描光学显微镜,NSOM … 光学、电子显微镜的分辨率极限 ?? Abbe 定律 Scanning Probe Microscope (SPM)  ——中国·北京中科奥纳科技有限公司 Scanning Probe Microscope (SPM)  ——中国·上海爱建纳米科技发展有限公司 SPM: 特指80年代以来发展起来的一类 nm 量级的超显微分析手段 典型的SPM(扫描探针显微镜)的组成 SPM 技术的发展年表（已发展了20余种SPM) SPM 技术的发展年表（续） SPM 技术的发展年表（续） SPM 技术的发展年表（续） 1. 扫描隧道显微镜 STM 扫描隧道显微镜STM 金属样品与探针表面的能级图 金属样品-探针表面间的隧道效应 STM的显微探针 STM 探针的电化学制备方法 STM 的压电陶瓷三维筒状微驱动器 STM 的两种工作模式 STM的应用： 导体表面的原子排列图象的直接观察 导体表面原子动态过