第四节 根轨迹分析法1_2.ppt

在下图画出了两条根轨迹。a点叫做分离点，b点叫做会合点。它们表示当时，特征方程式会出现重根。 分离点会合点判别： 实轴上相邻开环极点之间是根轨迹必有分离点 实轴上相邻开环零点之间是根轨迹必有会合点 实轴上开环零点、极点之间是根轨迹，可能既无分离点也无会合点，也可能既有分离点也有会合点 基于代数重根法则，如果方程 f(x)=0有重根，则f ?(x)=0的根也是f(x)=0的根。 分离点会合点求取： 重根法： 联立求解上述两个方程，得出分离点公式 补充：分离点方程式 解出s＝d是分离点坐标 若无零点，左端等于0 例：已知 解： 极值法 例4-6 已知控制系统的开环传递函数为 试求根轨迹在实轴上的分离点。 解 （1）用重根法求分离点 D（s）＝s（s＋1）（s＋2）；N（s）＝1，故 D’（s）＝3s2＋6s＋2；N’（s）＝0 利用 D(s) N’(s) - N(s) D′ (s)=0 3s2+6s+2=0 解之，得 s1＝－0.423，s2＝－1.577 本题的实轴根轨迹区间为：（－ ，－2]和[－1，0]， 故分离点只有一个。因s2不在根轨迹区间，也就不可能是分离点，故分离点必落在s1处。 解（二） 分离点方程为 即 解之，得 s1＝－0.423，s2＝－1.577(舍) 分离角 分离角：根轨迹的切线与正实轴的夹角 作业：P187 4-2 (1) (4) 4-4 (a) (b) 第四章 根轨迹分析法 目的 掌握绘制系统根轨迹的方法 掌握利用根轨迹分析系统的方法 内容 根轨迹方程 绘制根轨迹的基本法则 利用根轨迹进行系统分析 稳定性 即闭环极点 闭环特征方程的根 动态性能 稳态误差 系统的性能 开环放大系数 开环积分环节个数 困 难! 困难1：系统闭环特征方程的根如何求取！ 困难2：讨论或预测当系统中的某一参数发生 变化时系统闭环特征方程的根如何变 化! 参数改变，系统性能如何改变！ 伊万思（W . R . Evans）提出了一种图解方法，即在复平面上由系统的 开环 极点、零点 确定 闭环 极点 称为根轨迹法。 § 4.1 根轨迹法的基本概念 1.引例 讨论Kg变化时闭环极点的变化。 开环传函 闭环传函 闭环极点 闭环极点在S平面上的变化 系统的开环传递函数中某一参数变化时，系统闭 环特征方程的根在S平面上的变化轨迹即为根轨迹 问题： 绘制根轨迹是用描点法吗？ 高阶系统闭环特征方程的根的表达 式如何求? 思路：利用开环传函绘制闭环特征方程的根的变化。 例4-1 系统结构图如图所示，分析l 随开环放大系 数K变化的趋势。 解. K : 开环放大系数 : 根轨迹增益 2.根轨迹方程 闭环特征方程 若开环传函 则根轨迹的条件方程为 幅值条件 方程 相角条件方程 注意： 相角条件是确定根轨迹的充分而必要条件 可从幅值条件方程求解得出Kg 。 例4-2 图4-4所示为一个开环传递函数为 的系统的极点位置。试判断s1（-1，j1）、s2（-0.5，-j1）两点是否在其根轨迹上。 -p1 -p2 0 σ jω s1 s2 -0.5 -1 图4-4 相角条件的试探 4. 幅值条件和相角条件的应用 1）用相角条件求根轨迹 解：系统无开环零点 有两个开环极点：－p1＝0，－p2＝－1。 作出向量（s1＋p1）＝s1和（s1＋p2）＝（s1＋1) 规定以逆时针方向为正值。于是，由s1点导出的向量相角分别为 所以s1不在根轨迹上。 同理，过两极点向s2连线，得向量 （s2＋p1）＝s2 （s2＋p2）＝（s2＋1） 计算可知满足相角条件，所以，s2在根轨迹上。 由满足相角条件的点就可连成根轨迹。这种逐点试探的方法，称为绘制根轨迹的试探法。 由幅值条件得 2）用幅值条件确定Kg值 例4-3 求例4-2中根轨迹上s2点对应的Kg值。 s2（-0.5，-j1）。 解： 缺点：要把在s平面上整个根轨迹找出，是不现实的 优点：实际绘制根轨迹时，往往是，根据轨迹的一些特征描绘出近似曲线，再利用试探法在根轨迹的重要部分进行探测、修正。这样就能既方便，又较准确地求出整个根轨迹图 试探法优缺点分析 §4.2 根轨迹绘制的基本法则 1. 根轨迹的连续性 根轨迹是连续变化的曲线 2. 根轨迹的对称性 根轨迹对称于实轴 3. 根轨迹的分支数 n 阶系统，