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乔佳X射线衍射及其应用简介 X射线衍射及其应用简介 ?X射线的介绍 ?X射线的介绍 ?X射线的介绍 ?X射线的介绍 ?X射线的介绍 晶体对X射线的衍射 当一束X射线平面电磁波照射晶体时，晶体中原子周围的电子受X射线周期变化的电场作用而振动，从而使每个电子都变为发射球面电磁波的次生波源。所发射球面波的频率、位相（周相）均与入射的X射线相一致。基于晶体结构的周期性，晶体中各个电子的散射波可相互干涉相互叠加，称之为相干散射或衍射。 ?布拉格方程 1912年德国物理学家劳埃指出：当X射线照射晶体时，若要在某方向上能获得衍射加强，必须同时满足三个劳埃方程及在晶体中三个相互垂直的方向上相邻源自散射线的波程差为波长的整数倍。劳埃方程式从本质上解决了X射线在晶体中的衍射方向问题，但其理论复杂，在使用上亦欠方便。 ?布拉格方程 晶体既然可看成有平行的原子面所组成，晶体的衍射线亦当是由原子面的衍射线叠加而得。这些衍射线会由于相互干涉而大部分被抵消，之其中一些可得到加强。更详细的研究指出，能够保留下来的那些衍射线，相当于某些网平面的反射线。按照这一观点，晶体对X射线的衍射可视为晶体中某些原子面对X射线的“反射”。 ?布拉格方程 波长为λ的X射线入射任一点阵平面上，在这一点阵平面上各个点阵点的散射波相互加强的条件是入射角与反射角相等，入射线、反射线和晶面法线在同一平面上。 ?布拉格方程 将衍射看成是反射，是布拉格方程的基础。但衍射是基础，X射线只有在满足布拉个方程的?角上才能放生反射，因此，这种反射亦称选择反射。 波长为λ的入射线，以θ角投射到晶体中间距为d的晶面时，有可能在晶面的反射方向上产生反射（衍射）线，其条件为相邻晶面的反射线的波程差为波长的整数倍。 布拉格方程联系了晶面距d、掠射角θ角、反射级数n、X射线波长λ四个量。 电子的衍射强度 Bragg方程只确定衍射方向，衍射强度是由晶体一个晶胞中原子的种类、数目和排列方式决定的，整个晶体在各方向的衍射强度，实际上是一个晶胞衍射强度的若干倍。当然，仪器等实验条件对其数值也有影响。 ?X射线衍射方法 简化的布拉格方程维系着d、θ及λ三个参量。相对于间距为d的某种晶体而言，改变不同的θ或λ值就会满足布拉格关系从而获得衍射。 ?X射线衍射方法 一、劳埃法 劳埃法以光源发出连续X射线照射置于样品台上静止的单晶体样品，用平板底片记录产生的衍射线。根据底片位置的不同，劳埃法可以分为透射劳埃法和背射劳埃法。背射劳埃法不受样品厚度和吸收的限制，是常用的方法。劳埃法的衍射花样由若干劳埃斑组成，每一个劳埃斑相应于晶面的1～n级反射，各劳埃斑的分布构成一条晶带曲线。 ?X射线衍射方法 二、周转晶体法 周转晶体法以单色X射线照射转动的单晶样品，用以样品转动轴为轴线的圆柱形底片记录产生的衍射线，在底片上形成分立的衍射斑。这样的衍射花样容易准确测定晶体的衍射方向和衍射强度，适用于未知晶体的结构分析。周转晶体法很容易分析对称性较低的晶体（如正交、单斜、三斜等晶系晶体）结构，但应用较少。 ?X射线衍射方法 三、粉末法 粉末法是衍射分析中最常用的方法。大多数材料的粉末或其板、丝、块、棒等均可直接用作式样，其衍射花样有可提供很多的分析资料。粉末法主要用于测定晶体结构，进行物相定性、定量分析，精确测定晶体的点阵参数以及材料的应力、织构、晶粒大小的测定等。 粉末法是各种多晶体X射线分析法的总称，其中以德拜-谢乐法最具典型性，它用窄圆筒底片来记录衍射花样，较重要的还有聚焦照相法等。 X射线衍射分析的应用 ?X射线衍射分析的应用 1.物相分析 晶体的Ｘ射线衍射图像实质上是晶体微观结构的一种精细复杂的变换，每种晶体的结构与其Ｘ射线衍射图之间都有着一一对应的关系，其特征X射线衍射图谱不会因为它种物质混聚在一起而产生变化，这就是Ｘ射线衍射物相分析方法的依据。制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化，将待分析物质的衍射花样与之对照，从而确定物质的组成相，就成为物相定性分析的基本方法。鉴定出各个相后，根据各相花样的强度正比于改组分存在的量（需要做吸收校正者除外），就可对各种组分进行定量分析。目前常用衍射仪法得到衍射图谱，用“粉末衍射标准联合会（JCPDS）”负责编辑出版的“粉末衍射卡片（PDF卡片）”进行物相分析 。 ?X射线衍射分析的应用 PDF数据库检索与匹配 ?X射线衍射分析的应用 2.点阵常数的精确测定 点阵常数是晶体物质的基本结构参数，测定点阵常数在研究固态相变、确定固溶体类型、测定固溶体溶解度曲线、测定热膨胀系数等方面都得到了应用。点阵常数的测定是通过X射线衍射线的位置（θ）的测定而获得的，通过测定衍射花样中每一条衍射线的位置均可得出一个点阵常数值。 ?X射线衍射分析的应用 3.应力的测定 射线测定