FTFunctionalTest简介.ppt

现代电子测试技术— Functional Test 简介 一、电子测试技术及仪器概述 客观世界的信息获取 测量过程及测量过程中的误差 电子仪器平台 测量过程和测量过程中的误差 测量: 将未知量与一个假定已知量进行比较的过程。后者被称做“标准”。测量仪器就是一台简化测量过程的设备。 测量过程中的误差 (1)标准误差 (2)系统误差 (3)校准误差 (4)漂移误差 (5)随机误差 (6)操作误差 理想仪器的结构模型 测量仪器就是一个将物质量转换成信息量的变换器。输出值与输入值的关系可以用变换函数表示： Y = F X X为输入物理量；Y为变换后输出量；F为变换函数。 自动测试系统的简单结构 自动测试系统的信息流程 常用电子测量仪器 HP 8594E spectrum Analyzer Agilent 66309 Agilent 8960 CMU 200 Tek TDS 2012 FT（Functional Test)涉及的范畴 FT（Functional Test) 又称为功能测试。简单的说，就是对电子产品的设计性能进行测试 校准 再测试，直到产品性能满足我们的设计要求。 Functional Test 是一个学科交叉的工程领域，涉及到计算机技术、通讯电子技术、自动控制及仪表技术等多个工程领域。 二、手机生产测试中的关键技术 校准测试（Calibration Test): 校准手机的射频发射和接收性能，使之达到设计要求； 终测试（Final Test): 检验手机的射频发射和接收性能是否符合国家标准。 1.手机生产测试流程 2.GSM/DCS射频测试指标分析 射频指标的定义和要求 射频指标的测量 （1）接收灵敏度 （RX Sensitivity) a.接收灵敏度是指收信机在满足一定的误码率性能条件下收信机输入端需输入的最小信号电平。通常用残余误比特率(RBER)来测量接收灵敏度。 残余误比特率(RBER)的定义为接收到的错误比特与所有发送的的数据比特之比。 b.技术指标 对于GSM900MHz频段：当RF输入电平为一102dBm时，RBER不超过2％。 对于DCSl800MHz频段：当RF输入电平为-l00dBm，RBER不超过2％。 （2）频率误差、相位误差 相位误差定义为：发信机发射信号的相位与理论上最好信号的相位之差。 频率误差定义为考虑了调制和相位误差的影响以后，发射信号的频率与该绝对射频频道号(ARFCH)对应的标称频率之间的差。 对于GSM900MHz频段频率误差Fe若Fe＜40Hz，则频率误差为优；若40Hz≤Fe6≤60Hz，则频率误差为良好；若60Hz≤Fe≤90Hz，则频率误差为一般；若Fe＞90Hz，则频率误差为不合格。 相位误差有效值PeRMS若PeRMs＜2．5deg，则相位误差有效值为优；若2．5deg≤PeRMS≤4deg，则相位误差有效值为良好； 若4deg≤PeRMS≤5deg，则相位误差有效值为一般；若PeRMS＞5deg，则这项指标为不合格。 （3）射频输出功率 a.鉴于移动通信组网时的远近效应，在与基站通信过程中必须对移动台的发射功率进行控制(动态调整)，以便能保证移动台与基站之间一定的通信质量而又不至于对其它移动台产生明显的干扰。同样，也可以对基站的发射功率进行射频功率控制。 b.技术要求 对于GSM900Mz频段 对于DCSl800MHz频段 （4）射频指标的测试设备 RF指标测试一般所使用的仪器设备有：系统模拟器SS(或综测仪)、频谱仪FSA、移动台MS、RF信号发生器、射频功率衰减器、模拟电池、测试SIM卡及与移动台相匹配的测试电缆等。  三、自动测试系统 自动测试系统的基本结构 IEEE488.2接口总线 仪器的程控及虚拟仪器 测试软件的编制 自动测试系统的运行平台 （1）自动测试系统的基本结构 a.第一代自动测试系统：针对某项具体任务而设计 b.采用标准化的接口总线、可程控仪器和控制器（计算机） c.计算机取代测试仪器的一部分功能，成为测试仪器不可分割的一部分，整个系统简化到只由计算机、通用硬件、通用软件三部分组成（虚拟仪器技术） （2）IEEE488.2总线 目前普遍使用的一种可控测量仪器的标准接口。它在1972年由HP公司首先提出，定名为HP-IB，以后这套标准被IEEE认可，成为标准文本。通常成为GP-IB、IEEE488或HP-IB。我国也制定了相应