E2100E2000校正差异点.doc

E-2100與E-2000校正差異點 硬體: 吸著位置校正 由於E2100與E2000的PWB camera位置不同,如下圖所示: 所以在校正吸著位置時,無法使用PWB camera移動到吸著點mark的位置;E2100必須裝上吸嘴後直接用吸嘴(AF08050)位置去核對吸著治具上的吸著點! Note:E1000/E1100/E2000/E2100所使用的吸著治具皆為相同的 PWB camera校正 由於E-2100與E-2000的PWB camera位置不同,所以在執行PWB camera校正時,雖然是使用與E2000相同的治具但是Y方向的最後幾個光學點是照不到的,如下圖所示: 上圖中,紅色圈起來的部分是E2100 PWB camera無法移動到的位置,所以在執行校正的時候,Y方向的光學點就會比E2000校正時照的少,而實際照的數目為58個;執行校正前必須先在軟體上作參數變更! Parts camera校正 吸嘴及治具不同: E2000所使用的校正吸嘴為(CF30250),所使用的治具為BGA形式 E2100所使用的校正吸嘴為透射型,所使用的治具為QFP形式 優點: 反射認識的校正治具容易因為鐵片髒污,生鏽影響校正精度 而透射認識的校正治具無此顧慮 軟體: 由於PWB camera的位置不同,使用的治具也不同的狀況下,必須將c:\asm\mcdata\calib.ini的檔案用word pad打開後變更以下數據後方可使用: [Parts information]項目中的 PARTS1 OFFSET =-7.000,7.000 改為PARTS1 OFFSET =-8.000,8.000 PARTS2 OFFSET =-7.000,7.000 改為PARTS2 OFFSET =-8.000,8.000 說明: 此數據變更主要是因為治具尺寸改變所作的修正,如下圖所示: [HolePosition]項目中的 HOLE_NUM_Y =65 改為HOLE_NUM_Y =58 說明:請參照PWB camera校正治具圖(P.2) 其數值改變得主要原因是將Y方向的光學點數目由65顆改為58顆 刪除HOLE_X59 ~ HOLE_X65 的數值 說明:由於因為E2100作PWB camera位置校正時比E2000少照了幾個光學點(Y方向),所以必須在calib.ini中,把不照的光學點座標清除 [Other]項目中的 INSP_PARTS=0 改為INSP_PARTS=1 說明:E2000所使用的治具設定為0 E2100所使用的制據設定為1