焊接检验单五超声波检测.pptVIP

单元五 超 声 波 检 测 5.1 超声波检测原理 一、超声波的产生与接收 超声波的产生和接收是利用超声波探头中压电晶体片的压电效应来实现的。 5.2 超声波检测设备及器材 一、超声波检测仪 （一） 超声波检测仪的分类 （二） A 型、B 型、C 型显示仪 5.3 直接接触法超声波检测 一、检验等级的确定 5.4 超声波检测结果的评定 一、影响检测波形的因素 1．耦合剂的影响 2．工件的影响 3．缺陷的影响 二、缺陷位置、大小的测定及其性质的估判 （一） 缺陷位置的测定 1．垂直入射法时缺陷定位 2．斜角检测时缺陷定位 正压电效应 逆压电效应 二、超声场的主要特征参数 1．声压 在有声波传播的介质中，某一点在某一瞬间所具有的压强与没有声波存在时该点的静压强之差称为声压（Ｐａ）。 2．声强 （式中 ρ 为介质密度，c 为介质中的声速，p 为声压）。 3．声阻抗 单位是 ｇ／（cm２· s）或 ｋｇ／（cm２· s） 4．声压和声强的分贝表示 三、超声波的性质 1．超声波具有良好的指向性 （１） 直线性 （２） 束射性 2．超声波能在弹性介质中传播，不能在真空中传播 3．超声波的主要特点 4．超声波可以在异质界面透射、反射、折射和波型转换 超声波纵波倾斜入射时的反射与折射 超声波垂直入射异质界面 5．超声波具有可穿透物质和在物质中衰减的特性 （１） 散射引起的衰减 （２） 介质吸收引起的衰减 （３） 声束扩散引起的衰减 粗晶粒引起的草状回波 Ｔ—始波； Ｂ１—一次底波； Ｂ２—二次底波 四、超声波检测方法及原理 （一） 按检测原理分 1．穿透法 2．共振法 3．脉冲反射法 （二） 按波型分类 1．纵波法 2．横波法 3．表面波法 4．板波法 （三） 按探头与工件的接触方式分 1．直接接触法 垂直入射法、斜角检测法 垂直法检测 斜射法检测 2．液浸法 图5-11　液浸法 １—探头； ２—耦合液； ３—工件 图5-12 水浸聚焦检测原理和波形 １—探头； ２—工件； ３—缺陷； ４—水； Ｔ—始波； S1—一次界面反射波； Ｆ—缺陷波； Ｂ—工件底波； S2—二次界面反射波 Ａ 型脉冲反射式超声波检测仪电路框图 １—同步电路； ２—发射电路； ３—探头（换能器）； ４—工件； ５—缺陷； ６—荧光屏显示； ７—示波器； ８—扫描电路； ９—接收放大电路 １—Y 轴扫描电路； ２—同步电路； ３—发射电路； ４—放大电路； ５—电子束强度调制； ６—机械连接； ７—探头； ８—工件； ９—缺陷； １０—X 轴位置 Ｂ 型脉冲反射式超声波检测仪系统结构示意图 １—Y 轴位； ２—电子束强度调制； ３—电子深度门； ４—同步电路； ５—发射电路； ６—放大电路； ７—X 轴位； ８—探头； ９—检查深度 Ｃ 型显示系统框图 （三） 数字式 A 型显示超声波检测仪 1．全波采样数字式超声波检测仪 2．峰值采样数字式超声波检测仪 Ａ／Ｄ 转换采样示意图 （ａ） 全波采样； （ｂ） 峰值采样 3．模拟、数字混合式超声波检测仪 二、超声波探头 （一） 探头的种类 1．直探头 １—晶片； ２—保护膜； ３—接地铜圈； ４—吸收块； ５—金属盖； ６—绝缘柱； ７—接触座； ８—导线螺杆； ９—接线片； １０—晶片座； １１—金属外壳； １２—地线 2．斜探头 １—吸收块； ２—斜楔块； ３—压电晶片； ４—内部电源线； ５—外壳； ６—接头 3．水浸聚焦探头 １—接头； ２—外壳； ３—阻尼块； ４—压电晶片； ５—声透镜 4．双晶探头 １—壳体； ２—吸收块； ３—探头芯； ４—延迟块； ５—隔声层； ６—检测区； ７—被检工件 （二） 探头的主要参数 1．折射角 γ或 K 值 2．前沿长度 3．声轴偏离角 （三） 探头型号 三、试块 （一） 标准试块 GB／T 11345—1989 规定：CSK－IB 试块为焊缝检测用标准试块. （二） 对比试块 RB-1试块示意图 　　 　RB-2 试块示意图 RB-3 试块示意图 四、耦合剂 1．液体耦合 2．干压耦合 3．空气耦合 A B C 备注 δ≤50 δ≤100 δ＞100 δ≤100 δ＞100 探头角度数量 检测面数量 检测侧数量 串列扫查 母材检验 纵向缺陷探测次数 横向缺陷探测次数 1 1 1 0 0 1 0 1或2 1或2 2 0 0 2或4 0或4 2 2 2 0 0 4 0或4 2 1 2 0或2 1 ≥6 4 2 2 2 2 1 10 4 项目 板厚 检验等级 相应检验等级的主要检验项目汇总