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英文翻译基于flah型单片机二进制模数转换器的温度计解码器
基于flash型单片机二进制模数转换器的温度计解码器
摘要:研究低耗、高速的flash ADCs型解码器 。我们用ones-counter,深度为4的折叠式的Wallace-tree、以及基于MUX的译码器来仿真ROM译码器对于纠正泡沫错误的灵敏度。ones-counter和基于MUX的译码解码器,可以在130纳米CMOS SOI技术下实现,适用于对误差要求不高和硬件高效的情况。Ones-counter 和基于MUX型的解码器测得ENOB的量产率都为4.1比特,能源消耗分别为80PJ和60PJ。因此,我们得出结论,基于MUX型的解码器是在面积,效率,速度方面来说都不错的选择。
关键词:温度计码到二进制 flash ADCs 转换器
I.简介
通常只有四到六个比特的高速模数转换才能应用硬盘驱动器里超宽带无线电和硬盘读通道。flash模拟信号到数字信号转换器(ADC)的系统架构通常可以将模拟信号输入转换为2进制输出(转换式为),其中N是输出的位数,由数字解码器跟踪得到的。比较器通过把输入与梯形电阻网络产生的量化参考电压进行比较后在输出端输出逻辑电平。 从这一阶段的输出的测试图与温度计代码相对应,并随后由数字解码器转化为二进制代码,也就是温度计到二进制解码器。对于低速转换器来说,这种输入到解码器确实是完善的温度计代码,但若用于高速在温度计代码中可能有一些二进制位错误,即所谓的气泡。该气泡的产生是有很多原因的,如亚稳态,偏移比较器的串扰,和带宽的限制,有效采样时刻的不确定性等。因此,解码器必须是能在高速转换器存在气泡错误的情况下正常工作。我们发现在设计高速转换器的时候必须再三考虑并且权衡解码器的功耗和吞吐量的要求。
这项研究中,我们专注于设计低功耗的解码器和6位高速ADCs。最终的目标是开发设计能在CMOS硅绝缘体上实现的高性能的模拟电路技术,这项工作是这个目标中的一部分。在第二部分我们已经研究了四种类型的温度计到二进制解码器的性能,在第三阶段通过行为级仿真阐述了解码器对气泡误差的精确度。我们从中选择了两个已被实施130nm CMOS SOI技术的解码器。测量结果将在第四届部分展现。第五部分将会给出最终结论。
II.解码器
描述了四种不同类型的温度计码到二进制解码译码器。其中有两种是ROM式、折叠Wallace tree式计码译码器,都只研究了行为级。ones-counter解码器和在基于MUX的解码器已经在两个硅基CMOS技术的flash?ADCs上实现了。基于晶体管级仿真的结果和测量从而得到了结果。
A. ROM
温度计码编码的一个常见和简单的方法是使用格雷码或二进制编码的ROM。利用有m个输出比较器和m+1个反相比较器输入的行编码器对格雷码编码器ROM的相应的m行进行编码。m行译码器的输出,连接到存储器的m行,如果比较器m的输出为高就是高,那比较器m+ 1的输出就是低的。行译码器可以被实现的,例如,大量的2输入与非门,每个与非门两个输入中有一个是反相的。如果存在气泡错误会引起解码器在输出有很大的误差,这种类型的行译码器选择多行。当只考虑到单个气泡错误时,这些错误可以通过使用3输入与非门来校正,如图.1。 3输入与非门可以除去间隔至少有三位的温度计刻度以上的所有气泡错误。
图1
该ROM解码方法优点是结构设计简单。缺点是引起更多的泡沫误差、转换速度提高就需要更有效的气泡纠错方案。当气泡的纠错电路的复杂性增加,它的传播延迟时间一般也会增加。如果没有采用流水线型解码器那传播延迟时间会变长会降低整体的最大采样率。增加电路的复杂性会浪费更多的芯片资源、消耗更多的能量。
另一个泡沫误差抑制技术是蝶型排序技术中提出了[7]。应用这种技术的气泡会在温度计的刻度向上传播,直到温度计码里完全没有气泡。然后ROM解码器将无气泡的温度计代码编码成二进制码。在[7]蝶分拣机只能有八个级别。气泡如果距离它的转换高度太远就无法被去除。为了保证没有气泡将存在于输出的温度计码中深度蝶形排序拣机数目必须等于比较器的数目,即。
B.ones-counter
二进制温度计码解码器的输出是对那些输入数的表述,例如,格雷码或二进制代码。因此,用一个电路统计温度计码的数量,也就是说,ones-counter可以用作译码器[8]。
使用ones-counter抑制了全局的泡沫误差[3],[6],[8]。该方法的另一个好处是,合适的ones-counter拓扑结构可以通过压低速度来换取低功耗。从这种折衷的Wallace tree型拓扑[9],如图2所示,是可以作为高速转换器解码器的一个很好的候补[3],[6],[10]。
图2
在这项工作中,我们使用全加器(FAs)型的树将63输入降低为10输出,如图.3.所示,不同的信号路径通过相匹配的译码器,即每个信号
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