脉冲宽度测量设计 开题报告.docVIP

毕业设计开题报告 学 生 姓 名： 学 号： 学 院、系： 信息与通信工程学院、光电工程系 专 业： 电子信息科学与技术 设 计 题 目： 脉冲宽度测量仪设计 指导教师: 2011 年 4 月 17 日  毕 业 设 计 开 题 报 告 1．结合毕业设计情况，根据所查阅的文献资料，撰写2000字左右的文献综述： 文 献 综 述 1.引言 在电子技术及其应用领域中，常需要对各种系统工作的时间特性进行分析测量[1]，如图1给出的这种时间特性示意图，其中t表示时间脉冲宽度[2] [3]，即指脉冲起始时间和终止时间的持续时间。T表示一个工作周期[4]，即从脉冲的一个上升沿[5]到下一个上升的时间。 图1 脉冲宽度与周期很多工业与仪表系统都需要测量脉冲的宽度与周期,如转速传感器、外部系统的门控与选通脉冲，以及PWM (脉冲宽度调制)输入的频率等。因此可以说脉冲宽度和周期是关于脉冲的重要指标[6]。无论是模似电路还是数字电路，往往都需要对脉冲宽度进行测量。 2. 关于脉冲信号参数的测量,常用的有以下几种方法： 2.1 用示波器直接测量脉冲宽度及周期[7] 首先调节示波器延迟控制，使得扫迹的上升沿通过中心水平标尺线和某一垂直标尺线的交点。这时如果波形的下降沿跑出屏幕的范围也没有关系。为了获得更高的测量分辨率，可以提高延迟时基扫描速度。记下屏幕上显示的延迟时间t1。再调节延迟控制，使得波形的下一个下降沿通过同一个标尺交点。再记下屏幕上显示的延迟时间t2。用第二个延迟时间t2减去第一个延迟时间t1，就得到了波形上升沿、下降沿两点之间的时间差t2- t1。这就是脉冲的宽度。 然后使用延迟控制下一个脉冲波形的上升沿并记下屏幕上显示的延迟时间t3。t3减去t1即为脉冲的周期。 2.2 基于定时/计数器测量脉冲宽度及周期的一般原理[8]及采用的方法 示波器有时候并不能测出脉冲的宽度及周期，如当测量低频信号(例如lHz以下低频信号)时，示波器往往无法读出。可采用计数法来进行测量即以脉宽形成主门，让标准时标信号通过这一主门计数时标信号就可测得脉冲宽度原理如图2。图2 测量脉冲宽度的基本原理 计数法测量[9]脉冲周期原理框图如图3所示，被测信号为方波脉冲，此方波脉冲控制门控电路，使主门开放时间等于被测信号周期 TX ，由晶体振荡器(或经分频电路)输出周期为 TS 的时标脉冲在主门开放时间进入计数器，这种测量方法将被测信号周期TX 与 TS 时标进行比较，若在TX 期间内，计数器的计数值为N，则TX=NTS为被测信号的周期。 图3 测量数字脉冲周期的原理框图 当计数脉冲来自高稳定度晶体振荡器，且振荡周期比被测脉冲宽度小2个以上数量级时，该方法的准确度很高。计数器法可能产生的最大误差绝对值不超过计数脉冲周期。 2.3.内插扩展法[10] 设tx1为上述被测脉冲的实测值，则tx=Nt0+（t1-t2），tx1=Nt0，tx- tx1= t1-t2就是计数器法的世纪误差，其中tx是被测脉冲宽度实际值；t0是技术脉冲周期；N是计数脉冲有效个数；t1 和t2是反映测量误差的两个零头时间。 内插扩展法是针对消除或减小t1 和t2误差影响而提出的，其基本原理是：用上述计数器法测得tx1，并在t1 和t2时间段内，用恒流源给电容充电，然后以比充电速度慢得多的速度使电容放电至充电前的状态，充、放电速度相差的数量级可由需要而定由于放电时间很长，可用计数器法测得放电时间．根据充、放电速度的比例关系便可折算出充电时间，即t1 和t2，进而计算出tx。 虽然t1 和t2的测量仍有误差，但充、放电速度相差越犬，误差越小。在微型计算机、特别是单片机引入电子测量仪器后，内插扩展法得以方便地运用。测量时，被测脉冲宽度主体部分的计数测量、t1 和t2时间段的电容充放电控制、数值计算处理及测量结果的显示输出等都可由单片机完成，从而大大提高测量的准确度和自动化程。 2.4．基于单片机的脉冲宽度与周期的测量[11] 基于单片机的脉冲宽度及周期原理方框图如图4所示。输入信号通过脉冲形成电路进行放大与整形(可由放大器与门电路组成)，然后送到单片机入口，单片机计数脉冲的输入个数，计数结果经LED数码管显示，从而得到被测信号频率。其中单片机可选择AT89C51[12]等。 图4 脉冲宽度及周期原理方框图 3.脉冲测量的发展方向 随着EDA[13]技术的迅速发展，在EDA软件平台上，根据硬件描述语言VHDLE[14] 完成的设计文件， 自动地完成逻辑编译、化简、分割、综合、优化、布局线和仿真，直至对于特定目标芯片的适配编译、逻辑映射和编程下载等工作成了脉冲测量的发展方向。采用此种发法，设计者的工作仅限于利用软件的方式来完成对系统硬件功能的描述，在E