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                第7章板材与管材超声检测
                    第7章  板材和管材超声检测 7.1  钢板超声检测  7.1.1  钢板加工及常见缺陷 加工方法:由板坯轧制。 常见缺陷:分层、折叠、白点等。分层和折叠缺陷大都平行于板面。  7.1.2  检测方法 检测方法:垂直入射法,中厚板,δ≥6mm。 采用一次底波或二次底波法,根据缺陷波和底波衰减情况来判定缺陷情况。 耦合方式:直接接触法和水浸法; 探头:聚焦和非聚焦的单晶直探头、双晶直探头。 叠加效应    板厚较薄且板中缺陷较小时发生的现象,由于不同反射路径声波互相叠加造成的。出现叠加效应时,一般应根据F1评价缺陷,δ<20mm时,用F2评价缺陷。 2.  水浸法(充水耦合法) 耦合方式:探头与钢板不直接接触,通过一层水耦合。 多次重合法:通过调整水层厚度,使水/钢界面回波分别与钢板的多次底波重合。 重合法水层厚度H与钢板δ的关系: 7.1.3  探头与扫查方式的选择 1.  探头的选择 探头频率:宜选用较高的频率,一般为2.5~5.0MHz; 晶片直径:宜选用较大直径探头,一般φ10mm~φ25mm; 结构形式:根据板厚确定单晶直探头或双晶直探头。 承压设备用板材超声检测探头选用规定,表7-1。 7.1.4  检测范围和灵敏度的调整 1. 检测范围的调整     根据板厚来确定底波的次数。  灵敏度的调整 CBⅠ标准试块法     板厚≤20mm,采用CBⅠ试块,使之与工件等厚的第一次底波达满幅度的50%,再提高10dB作为基准灵敏度。 CBⅡ标准试块法:     板厚>20mm,采用CBⅡ试块,使φ5mm平底孔第一次回波达满幅度的50%作为基准灵敏度。 底波法     利用多次底波调整灵敏度。 7.1.5  缺陷的判别与测定 1.  缺陷的判别 根据缺陷波和底波来判别缺陷 缺陷第一次反射波F1≥50%; 第一次底波B1<100%,第一次反射波F1与第一次底波B1之比F1/ B1 ≥50%; 第一次底波B1 <50%。 7.2  铝及铝合金、钛及钛合金板材超声检测 7.2.1  铝及铝合金板加工及常见缺陷     由板材轧制而成。常见缺陷:气孔、夹杂、微细裂纹。  7.2.2  铝及铝合金、钛及钛合金板材检测方法 检测方法特点      检测方法与钢板检测基本相同。 探头与扫查方式的选择 探头:可选用较高的频率,2.5~5.0MHz。 扫查方式:主要扫查方式为全面扫查、列线扫查、边缘扫查和格子扫查。列线扫查探头沿垂直于板材压延方向、间距不大于40mm的平             行线。 扫查速度:与钢板基本相同。 检测范围和灵敏度的调整 检测范围:根据板厚来确定。 灵敏度的调整:将探头置于待检板材完好部位,调节第一次底波高度为满刻度80%。 7.2.3  缺陷的判别与测定 1.  缺陷的判别    根据缺陷波和底波来判别缺陷: 缺陷第一次反射波F1 ≥40%。 第一次反射波F1<40%,第一次反射波F1与第一次底波B1之比F1 / B1 ≥100%。 第一次底波B1 <5%。 2.  缺陷边界范围或指示长度的测定方法 当F1 ≥40% 或 F1 <40% 且 F1 / B1 ≥100%时,移动探头(使用双晶直探头,探头移动方向应与探头的隔声层垂直)使F1达20% 或 F1 / B1达100%时,探头中心移动距离为缺陷指示长度,探头中心轨迹为缺陷边界; 确定底波降低缺陷的边界或指示长度,使B1达40%时探头中心移动距离为缺陷指示长度,探头中心轨迹为缺陷边界。 7.2.4  缺陷的评定方法 1.  缺陷指示长度             按其指示的最大长度作为该缺陷的指示长度,单个缺陷指示长度小于25mm可不作记录。若两个缺陷相邻间距小于25mm,其指示长度为两单个缺陷的指示长度再加间距之和。 2.  缺陷指示面积             按其指示的最大面积作为该缺陷的单个指示面积。多个缺陷其相邻间距小于相邻较小缺陷的指示长度(取其较大值)时,以各缺陷面积之和作为单个缺陷指示面积。 7.2.5  质量级别判定       JB/T 4730-2005规定:根据缺陷指示长度与缺陷指示面积不同将板材质量分为四个等级。 7.3  复合板超声检测 7.3.1  复合材料中常见缺陷 复合材料:由母材与复合层粘合。在碳钢或低合金钢母材上,粘接不锈钢、钛、铝、铜合金等复合层。 制造方法:轧制、爆炸、堆焊等。 常见缺陷:脱层(脱接),即复合层与母材在界面处复合不良。 7.3.2  检测方法 检测方法:纵波检测; 探头:单晶直探头或双晶直探头,探头直径不大于Φ25mm; 检测频率:2.5~5.0MHz。 检测灵敏度:复合板完好区的第一次底波B1调至示波屏满刻度的80%; 入射面:母材侧或复合层侧。 7.3.3  缺陷的判别 1.  两种复合材料声阻抗
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