集成门使用及逻辑功能测试佘.pptVIP

实验一 集成门使用及逻辑功能测试 一、 实验目的 1. 熟悉TTL、CMOS集成门电路的逻辑符号和引脚排列； 2. 掌握TTL、CMOS集成门电路的逻辑功能； 3. 熟悉三态门和集电极开路门的功能和使用方法。 二、实验原理 （1）普通逻辑门 （2）三态逻辑门 （3）集电极开路门（OC门） 标准TTL门的输入 / 输出逻辑电平 : 补充内容 CMOS门的输入 / 输出逻辑电平(＋5V电源时) : 0.33V 4.4V 三、基础性实验任务及要求 （1）验证TTL集成电路74LS00、74LS04的逻辑功能 （2）验证CMOS集成电路74HCT00、74HCT04的逻辑功能 电源电压仍采用5V， 方法同上。 （3）三态门功能测试及应用 任选一个三态门，输出端接上1K负载电阻进行测试： （4）多路数据在总线上的分时传输 3个三态门的输入端分别加上0、1和1Hz脉冲信号， 分别使3个控制端依次有效，观察发光二极管的情况。 （5）OC门功能测试 将某个OC与非门不接上拉电阻，输出端接发光二极管到地： 将某个OC与非门接上拉电阻510欧，输出端接发光二极管到地： (6) OC门的“线与”逻辑功能测试 四、设计性实验任务及要求 （选做） 五、实验报告要求 见实验教材P7（基础实验报告）