操作手册-抗干扰开发系统E1详解.pdfVIP

用 户 手 册 抗干扰开发系统E1 容 向 －专注于电磁兼容方向 Langer 用户手册 容向系统科技有限公司 Compliance Direction Systems Inc. 1． 测量原理 大部分电子产品需要通过电快速瞬变脉冲群（Burst）和静电放电（ESD）等项目的标准测 试。测试时，把干扰脉冲从设备外部耦合到内部，同时监视设备的工作状态。如果设备没有通 过这些标准的测试，测试本身几乎不能提供任何如何解决问题的信息。 E1抗干扰开发系统，在设备内部仿真干扰的过程。能采用不同的方式，向电子模块直接注 入干扰电流、电场和磁场，以定位电路板上的电磁薄弱点，理解耦合机理，完成最优化的设计 修改。 E1抗干扰开发系统不能按照某个标准进行兼容性测试。所以建议先对被测物进行标准的抗 干扰测试（必要的话，在EMC实验室进行测试），然后对可能的故障原因进行分析，再利用E1 来找出更多的故障原因，并利用E1在产品开发场地进行设计修改的评估。 2． 各部件说明 2.1 SGZ 21 电快速瞬变脉冲群信号发生器 SGZ21产生连续的类似于Burst或者ESD的干扰脉冲，脉冲的上升沿时间为2ns，下降沿时 间为约10ns。这些脉冲包含的能量比2/50ns 的Burst脉冲【根据EN 61000-4-4】或ESD 【根据 EN 61000-4-2】脉冲小，因此能在不损坏被测设备的情况下，把干扰直接耦合到电子模块内。 由于SGZ21产生的脉冲，上升沿时间短，峰值电压也比较低，所以这些干扰对被测设备的影响， 是 和 EN 61000-4-4 的 Burst脉冲的影响类似的。 图1 SGZ21 Burst发生器 脉冲的幅度是连续变化的。峰值在0－1500V之间，是按统计平均分布的。利用这种方法， 配合传感器 （见2.3节），能对模块进行特别快速的抗干扰性能评估 （脉冲率测试法－见2.5节）， 为此，发生器内置了一个带光纤（2.2mm塑料光纤）输入的计数器。 SGZ21采用电气隔离（无PE参考）的对称输出。干扰脉冲能被容性耦合，极性可变。这样， 就能采用各种耦合方式，例如： －把发生器的输出直接连接到被测物的GND系统上，把干扰电流直接注入到GND系统。 －把干扰电流注入到GND，然后从VCC返回。 －干扰电流可以注入到变压器、分配器或者光耦的初级，从次级返回（在工作电压大于42V 时，对SGZ21要有相应的保护） 连接到发生器的场源，可以精确定位被测设备的临界结构。 “发生器”开关：打开或者关掉发生器。 Web ： Email ： info@ 2 Langer 用户手册 容向系统科技有限公司 Compliance Direction Systems Inc. “强度”转钮：对干扰脉冲强度进行调节 （参考：脉冲率测试法－见2.5节） “脉冲形状”开关：切换脉冲形状为陡峭或者平坦，以适应渗透能力。 计数器：用于脉冲率测试方法。光纤输入，6位计数器，开门时间1秒。 SIGNAL LED：表示接收到光信号。 SPIKE LED: 收到的单个光信号被扩展为一个可视的宽度（约50ms ），显示在这个LED。 在发生器的左边有一个插孔，接12V电源【E1系统中包含了这个电源】。