射仪（要1.1X射线发生器.PDF

序 数 设备名称 技术参数 单位 号 量 1 X-射线衍 1. X 射线光源与光管 1 台 射仪(要 1.1 X 射线发生器： 求授权) 1.1.1 输出功率不小于3kW。 1.1.2 最大电压不小于60kV。 1.1.3 最大电流不小于60mA。 1.2 长寿命陶瓷X 射线光管： 1.2.1Cu 靶陶瓷光管，标准尺寸设计。  1.2.2 电流电压稳定度：优于 0.005% (外电压波动10%时) 。 1.2.3 X 射线防护：X 射线防护：安全连锁机构、剂量优于国标， 辐射量小于1Sv/h。提供2套独立的安全电路，符合EC及DIN54113 认证。 2 测角仪 2.1 测角仪具有光学定位系统。 2.2 扫描方式：Theta/ Theta 测角仪，立式测角仪。    2.3 2 转动范围：-110 ~168 。 2.4 测角仪半径：≥200mm，测角圆直径可连续改变。   2.5 最小步长：0.0001 ，角度重现性：0.0001 。 2.6 驱动方式：步进马达加光学编码器驱动。 3探测器 *3.1 能量色散阵列探测器：相对与常规点探测器强度提高450 倍， 比一维探测器提高三倍，灵敏度提高一个数量级，提供盖章彩页。 3.2 子通道个数：大于190×15个，保证每个子通道完好，随机带保 证书，支持固定模式扫描以及原位分析，可用于验收。 8 3.3 最大计数：≥1x 10 cps。 7 3.4 线性范围：≥4x10 cps。 3.5 背景：0.1cps。 *3.6 能量分辨率：4.75% （380/8000ev）完全能够分辨Kα,Kβ射线， 并去铜靶测试铁钴镍样品产生的荧光，而无需任何单色器，提供盖 章彩页。 3.7 提供的半导体阵列探测必须适合小角和广角测试，最低0.3度起 测。 3.8 验收精度：国际标准样品NIST 1976 刚玉标样现场检测，全谱范 围内所有峰的角度偏差不超过±0.01度 （20 度到140 度），随机带 保证书。 3.9 扫描模式：可采用零维模式 （点探测器），一维模式 （阵列探 测器）。 3.10 测量重现性：五次重复测量角度偏差不超过0.001度。 4 光路部分 *4.1 所有光学附件均采用模块化设计，安装、拆卸方便快捷。 *4.2 所有光学附件智能芯片识别、自动精确定位。 5仪器控制和数据采集系统