近代物理试验x光衍射系列试验初稿.DOC

X光衍射系列实验 课程：近代物理实验I 姓名: 陈辰 专业：06物理学 学号：06300190004 摘要：本实验较为全面地覆盖x光衍射系列实验，对x光与物质作用的性质做了相对深入的研究。同时，详细地阐述如何通过不同波长的吸收性质来测量Compton效应中X射线的频移。在测得透射率随波长的变化曲线后，通过对透射率的判断寻得最佳散射角，最后对于实验误差形成的原因做了一些分析。 关键词：x光谱随U与I的变化 NaCL与LiF晶面间距 衰减系数与厚度关系 衰减系数（原子吸收截面）与波长关系 Plank常数 Rydberg常数 Compton效应 U与I对x光谱线的影响 (1) U对x光谱线的影响 谱线具有以下特点： (1)．U=20kv时只有连续谱，当大于25kv时，有特征谱产生，特征谱波长不随U变化，辐射波长0.063nm, 辐射波长0.071nm。 (2)．U增大时各种波长射线的相对强度相应 增高。 (3). U增大时短波限波长减小。这是因为，电子韧致辐射的能量极大值为eV, 即： ，由此可见与V成反比。 (2) I对x光谱线的影响 谱线 谱线以下特点：P6.3.3.2 蓝皮P3 (1)．I增加时，各波长射线的相对强度增大。 (2)．I变化时，不变。 参考文献，得到光强i～V，Z，I的经验公式： 实验中计数率R与I成正相关，虽然具体关系不明，但是由图中仍可清晰地反映上述规律。 NaCl与LiF晶面间距 X光在晶体表面衍射，由Bragg公式： (n:衍射级次，a0：晶格常数d：晶面间距) 实验结果如下表： Line n 1 0.111 62.9 0.155 62.3 1 0.127 71.7 0.174 69.9 2 0.225 126.9 0.132 125.8 2 0.252 142.2 0.350 141.0 3 0.337 190.1 0.469 189.1 3 0.378 213.1 0.527 212.2 对1、2、3级次作直线结合: NaCl 测量结果：a0=563.1 文献值： a0=564.02 LiF 测量结果：a0=403.3 文献值： a0=402.70 此处未直接求平均值，而是用直线拟合，结果相对较为满意。 3. 衰减系数系列 (1) 衰减系数与厚度关系 X射线在吸收介质中衰减，满足Lambert’s Law: (: 衰减系数 T: 透射率) 调整在00到600间每隔100变化，扫到的吸收片厚度分别为0.0，0.5，1.0，1.5，2.0，2.5，3.0 mm，记录计数率R，并计算lnR。 指数拟合： 可做直线拟合： 指数拟合：， 不确定度R2=0.99706 直线拟合： 不确定度R2=0.977 从直观的符合程度以及不确定度来看，指数拟合更优。但是两种拟合方式结果均不理想，仔细观察指数拟合图，发现尾部的一个点“沉降”，虽然个人认为厚度的变化应该不会导致衰减系数突变，但是也有可能有其他原因尚待讨论。 (2) 原子吸收截面和的关系 衰减系数由两部分构成，为散射系数，为吸收系数，对三者作“微观化”处理，将其归结到原子层面，有： 由以上三式，有： 其中，可由估算，代入： ① 式①便为的估算式。 本实验可以测得透射率T， ② ②代入①，得： ③ 就由式③出发，按以下logic展开： 测量结果 Cu: A=2.650.04 Zr: A=2.270.07 4. 应用 常数的测定 (1) Plank常数的测定 对于固定电压，x光连续谱有特征短波限波长，有Duane-Hunt relationship: , 推导如下： U从16-34V变化，间距2V，作图像： 用软件读出横截距，： 由直线斜率k： (2) Rydberg常数的测定 当超过一阈值，也即时，吸收系数会发生突变， 如图所示： 定义发生突变的为吸收边，有Moseley’s Law : (R为Rydberg常数，Z为原子序数，为k壳层屏蔽系数，即有的电子被其他壳层所吸收，为被k壳层所感知。) 实验通过更换Z不同的材料，寻找透射率T发生突变的，作直线拟合，从而得到R与 (i) 分别使用In,Ag,Zr,Mo寻找： (II) 直接从软件左下角读数： Rydberg常数 测量结果： 文献值： 相对误差： 壳层屏蔽 测量结果： 文献值： 相对误差： 5.