用X射线衍射仪验证康普顿效应06300300098高文娇摘要利用不同.DOCVIP

用X射线衍射仪验证康普顿效应 06300300098 高文娇 摘要：利用不同波长的X射线在同种材料中透射系数的不同，用X射线衍射仪验证康普顿效应，并进行实验结果与误差分析，提出改进方案。 关键词：康普顿效应 ； 吸收系数 ； 引言： 1919-1920年间，康普顿进行了γ射线和X射线的散射实验，发现了用经典理论无法解释的实验结果：从不同角度在靶周围测量散射射线波长，发现散射射线中含有波长增长的波，该现象就是著名的康普顿效应。康普顿指出：三摄影遵从能量和动量守恒定律，散射X射线的波长变长说明X射线光子带有量子化动量。1922年，他根据单个光子和电子的简单碰撞理论，对这个效应作了满意的理论解释。根据能量守恒和动量守恒，考虑相对论效应，得到X射线被电子散射前后的波长随散射角的变化表示为 （1） 本实验利用X射线衍射仪，测量并计算一定角度下的X射线散射的波长位移，对误差进行分析并探讨一些实验方法和数据处理的改进方法。 实验原理： 实验发现，X射线通过物质时强度要减弱，这种现象即为X射线的吸收。物质对X射线的吸收主要来自于X射线与物质中电子的作用，包括光电效应，康普顿效应以及电子对效应（X射线能量较高时）。同种材料对X射线的吸收系数与X射线的波长有关，由于发生康普顿散射前后X射线的波长发生变化，同一材料在散射前后对X射线的吸收强度将发生变化。 X射线透过一定厚度的铜片时，透射系数与波长的关系是： 实验室提供的数据为：a = 0.76; n = 2.75 实验中将进行实验对a与n的值进行测量。 X射线透过Cu箔的投射率的具体测量办法是：用Al片作为散射材料，首先测量光路中不加Cu箔时的某一角度的技术率R0,然后分别将Cu箔分别固定在入社狭缝和出射狭缝处，分别测量X光量子被Al片散射前后的穿过Cu箔的记数率R1和R2。由于康普顿效应散射的强度比较低，尤其是在光路中加入Cu吸收片后，这时需要考虑背景辐射，既不加X光时的记数率R.康普顿散射前后X光量子穿过Cu箔的投射率可以表示为： （2） （3） （4） 由（2）-（4）式可以求出康普顿散射前后射线的波长差为 因此测量康普顿散射波长差就可以转化为测量散射前后的X光穿过纯Cu箔的投射率。 实验内容 主体实验 在康普顿散射的公式（1）中，Δλ与入射波长无关，因此进行两组实验： 一组为将X射线中的Kβ线滤去，查阅文献发现由于不同材料对于X光的吸收系数与材料的原子系数有关，由于锆片的Λk（68.8pm）比X射线中的Kα(71.1pm)线短,却比Kβ线（63.2pm）长，又由于X射线的连续谱（韧致辐射导致）强度远不及特征谱，因此用锆片将Kβ线滤去就可以近似得到单色光（Kα线）。 第二组为不滤去Kβ线进行实验 辅助实验 做出Cu片的透射谱，求出 a 和 n; 验证Zr片对Kβ线的吸收效果 实验仪器与方法 实验仪器为实验室的X光衍射仪，X光管的阳极材料为钼，靶材选用对电子束缚较小的Al,实验参数如下： X光管高压：35 Kv X光管管流：1 m A 强度采集时间：600s θ= 145 度 Zr片厚度： 0.06 mm Cu箔厚度：0.08 mm 由以上的参数设置，根据公式（1），得到Δλ的理论值为 4.42 pm 实验结果： 主体实验的结果如下： 不加锆片： 加锆片： T1=11.7% T1=15.2% T2=7.7% T2=8.3% λ0=63.133pm λ0=60.22pm λ1=67.362pm λ1=66.64pm Δλ= 4.23pm Δλ=6.42pm η=4.3% η=45.2% 辅助实验（一）的投射图谱如下： 上图横坐标为波长（单位pm）,纵坐标为光强。黑色曲线为不加锆片时的衍射曲线，红色曲线为加入锆片时的衍射曲线。每条曲线均有两个峰，第一个峰为Kα线的衍射峰，第二个为Kβ线的衍射峰。由两条曲线对比可以得到，锆片对Kα线的吸收为46%，而对Kβ线的吸收系数为93%。加锆片前Kα线与Kβ线的强度比为0.59而加入锆片后Kα与Kβ线的强度比为0.07.由此可见锆片对Kβ线的吸收效果是比较好的。此处如果要精确的