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MSA 量 測 系 統 分 析 課 程 大 綱 一、前言 二、量測數據的品質 三、量測系統 四、量測系統的統計特性 五、變異的來源 六、變異的類型 七、量測不確定性 八、如何進行量測系統分析 九、量測系統分析 -- 計量值範例 十、量具重複性與再現性之比較 十一、量測系統分析判定 -- 計量值 十二、量測系統分析 -- 計數值範例 十三、Work Shop 一、前言: 顧客的聲音 DELL QMP (Quality Management Plan) Critical Parameters: Dell and the supplier will identify the critical parameters for the specific product. These parameters will ensure form; fit and function of the product are controlled once process capability has been established. The following process capability requirements are required. Gage RR: Before equipment and process qualifications are evaluated