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SPC 在制程中的應用 Statistical Process Control 課程大綱 基本統計概述 直方圖 基本統計量數 SPC 背景說明 制程變異分析 建立 SPC 步驟 管制圖 制程能力研究 實例演練 統計方法的意義 群體與樣本 資料的分類 資料的分析 品質管制與統計方法 統計方法的意義 規劃資料的收集，整理與解釋資料，並據以導出結論或予以推廣的制程，稱為統計方法。 闡述統計方法與理論的科學，即為統計學。 上述統計方法，乃自全部資料中，抽取部分資料，此部份資料的收集、整理，並將其結果加以解釋，使不了解統計分法的仁得以了解，並據以對全部資料作成結論，或推導出全部資料所蘊含的特性。 Normal Distribution - List 什麼是6 sigma 統計制程管制的定義 經由制程中去收集資料，而加以統計分析，從分析中得以發覺制程的變異，並經由問題分析以找出異常原因，立即採取改善措施，使制程恢復正常。並藉由制程能力分析與標準化，以不斷提昇制程能力。 變異—機遇原因與非機遇原因 為了使變異的表示簡化，通常分成下列二種： ?機遇原因的變異 制程中變異因素是在統計的管制狀態下『受控』。 隨著時間的推移，具有穩定的且可重複的分佈 制程中的許多『全距』的原因。 ?非機遇原因的變異 制程中不常發生，但造成制程變異的原因。 所造成之分佈與時間的關係，是不穩定且不無法 預期的。 大量之微小原因所引起 原料在一定範圍內之微小變異 機械之微小振動 儀器測定時，不十分精確之做法 依據作業標準執行作業的變化 實際上，要除去制程上之機遇原因，是件非常不經濟之處置 一個或少數幾個較大原因所引起 使用規格外的原物料 新手之操作人員 不完全之機械調整 未依據作業標準執行作業 所制訂之作業標準不合理 非機遇原因之變異，不但可以找出其原因，並且除去這些原因之處置，在經濟觀點上來說，是正確的 系統措施 → 改善機遇原因 制程控制與制程能力 首先應通過『檢查』，消除『全距』所產生之非機遇原因，使制程處於『受控』的狀態 接下來，就可依顧客的『要求 ( 規格 )』，來評定『制程能力』，以使顧客滿意，這就是持續改善的基礎。 制程控制與制程能力矩陣 『1』類：理想的情況 X → μ， σ 小 『2』類：受控制程，但存在『機遇原因』造成過大的變異，必須減少『全距』的變異。 X → μ， σ 大 制程改善循環 1.分析制程： 本制程應該做什麼？ ● 會出現什麼問題？ ─本制程會有哪些變化？ ─我們已經知道本制程的什麼全距(全距)？ ─哪些參數受全距(全距)的影響最大？ ● 本制程正在做些什麼？ ─本制程是否在生產廢品及需要返工的產品？ ─本制程生產的產品是否處於受控狀態？ ─本制程是否有能力？ ─本制程是否可靠？ 管制圖之管制上 / 下限 Cpk / Ppk Cpk – The capability index for a stable process. The estimate of sigma is based on within subgroup variation ( R-bar / d2 or S-bar / c4 ) Ppk – The performance index. The estimate of sigma is based on total variation ( all of individual sample data using the standard deviation 【root mean square equation 】, “ s “ ). 制程能力調查步驟 確切了解要調查的品質特性與調查範圍，並收集數據 製作解析用管制圖，確定製程處於受控狀態之中 計算制程能力指數 ( Short Term : Cpk ) 判斷制程能力是否足夠，如不夠時或不穩定時，則加以改善 以解析用管制圖之『管制上、下限』，作為『管制用管制圖』之監控，並於一段期間後，再計算制程能力指數 ( Long Term : Ppk ) 制程能力調查的方式 圖示法--- 主要以次數分配圖、直方圖、管制圖表示之 數值法--- 以Ca值(製程準確度