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專利侵權比對
萬國法律事務所科技法律部
陳冠中律師
2017/4/19
鑑定侵害判斷之流程-
專利侵權判斷要點
解釋請求項
解析申請專利範圍之技術特徵 解析被控侵權對像之技術內容
符合文義讀取
否
是
適用均等論
是
(須檢討是否存有限制事項)
否
構成文義侵權 不構成侵權 構成均等侵權
比對
將解讀之申請專利範圍與被控對象物加
以比對
事實問題 (matter of fact)
3
侵權之判定方式
被控對象物V.S.申請專利之所有限制條
件
4
侵權認定三步驟
全要件原則(All Element Rule)
均等論(Doctrine of Equivalent)
禁反言原則(Prosecution History Estoppel) or
先前技術阻卻
5
全要件原則(AER)
若被告對象具有申請專利範圍的 每一個
構成要件 ,且其技術內容相同,侵害才
成立之原則,否則即是缺少了一構成要
件,基本上應認為沒有侵害(全要件排
除 ) 。
前文 、連接詞 、主體?
字面侵害/ 文義侵害(Literal
Infringement)不相同的元件為實質
上不會影響技術特徵的元件、成分或步
驟或其結合關係
6
全要件比對之結果
如被控對象物不含申請專利範圍中之任
一要件,則依全要件之判定係 「非侵害
」。如不同的元件為實質上不會影響技
術特徵的元件、成分或步驟或其結合關
係,則屬文義侵害 ,接著適用均等論繼
續判斷。
如被控對象物包含申請專利範圍中之所
有要件 ,則續以逆均等論判斷。
7
均等論(DOE)
均等成立之要件 :
置換可能性
置換容易性
可用實質上同一 功能(Function) 、實質
上同一方法(Way) 、同一 效果(Result)
之觀念。
8
均等論之比對
訴訟中爭議最大的部分 。
比對基礎係逐一元件之比對,而非申請
專利範圍整體之比對 。
9
逆均等論(Reversed DOE)
機乎沒有案例
被控對象物雖落入申請專利範圍之文義
意涵 ,但若兩者原理不同,即使執行相
同功能亦為實質不同之方式,則可能不
涉及侵權。
理由:被控對象物與系爭專利已非相同
之發明 。
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