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PAGE \* MERGEFORMAT 0 献给湖工的学弟学妹们,,,自动化08心有灵犀 目录 TOC \o 1-3 \h \z \u HYPERLINK \l _Toc297390712 第1章 概述 PAGEREF _Toc297390712 \h 1 HYPERLINK \l _Toc297390713 第2章 设计方案和框图 PAGEREF _Toc297390713 \h 2 HYPERLINK \l _Toc297390714 2.1设计方案的选择 PAGEREF _Toc297390714 \h 2 HYPERLINK \l _Toc297390715 2.2系统框图 PAGEREF _Toc297390715 \h 3 HYPERLINK \l _Toc297390716 第3章 单元电路设计 PAGEREF _Toc297390716 \h 4 HYPERLINK \l _Toc297390717 3.1元器件介绍 PAGEREF _Toc297390717 \h 4 HYPERLINK \l _Toc297390718 3.1.1计数器 PAGEREF _Toc297390718 \h 4 HYPERLINK \l _Toc297390719 3.1.2 比较器 PAGEREF _Toc297390719 \h 6 HYPERLINK \l _Toc297390720 3.1.3 或门 PAGEREF _Toc297390720 \h 7 HYPERLINK \l _Toc297390721 3.2 单元电路设计 PAGEREF _Toc297390721 \h 8 HYPERLINK \l _Toc297390722 3.2.1计数器电路 PAGEREF _Toc297390722 \h 8 HYPERLINK \l _Toc297390723 3.2.2 芯片插座 PAGEREF _Toc297390723 \h 9 HYPERLINK \l _Toc297390724 3.2.3标准芯片电路 PAGEREF _Toc297390724 \h 9 HYPERLINK \l _Toc297390725 3.2.4比较器电路 PAGEREF _Toc297390725 \h 10 HYPERLINK \l _Toc297390726 3.2.5信号灯电路 PAGEREF _Toc297390726 \h 10 HYPERLINK \l _Toc297390727 3.2.6计数及显示模块电路 PAGEREF _Toc297390727 \h 11 HYPERLINK \l _Toc297390728 第4章 软件仿真 PAGEREF _Toc297390728 \h 12 HYPERLINK \l _Toc297390729 第5章 总结 PAGEREF _Toc297390729 \h 16 HYPERLINK \l _Toc297390730 参考文献 PAGEREF _Toc297390730 \h 17 HYPERLINK \l _Toc297390731 附录A 总电路图 PAGEREF _Toc297390731 \h 18 TOC \o 1-3 \h \z \u 概述 在高校的教学实验环节中，需要大量使用TTL74,54系列数字集成芯片。随着电子技术的迅速发展,数字集成电路的应用越来越广泛,而74系列的逻辑芯片在数字电路中又有着非常广泛的应用,数字电路设计中要保证设计电路的准确性,必须要求所用的芯片逻辑功能完整,但若对所用芯片逐一测试,未免有些繁琐。另外,在数字电路的维修中经常要对芯片的型号和好坏进行判断,针对上述需要,我们针对常用的74系列逻辑芯片设计了74系列逻辑芯片测试仪,用来检测常用74系列芯片的型号和逻辑功能的好坏,从而是数字电路的设计,制作与维修过程得到简化,达到事半功倍的效果。 目前，市场上存在一种可以对TTL，CMOS数字集成芯片进行检测的工程应用型测试仪，但是其价格较贵，难满足学生人手一台；另外，该测试仪器是面向工程单位的，不能测试实验室中的很多数字芯片。因此，从节约经费、提高利用率的角度出发，设计了集成芯片测试系统。该测试系统能够实现对高校实验室中常用的TTL74系列芯片的功能检测。 设计方案和框图 2.1设计方案的选择 测试74系列芯片的方案有两种， 方案一：测试真值表。 74系列芯片每一个都有一个对应的真值表，给输入端脉冲，测试输出端真值表与理论的是否一样。一样则是好的，不一样则是坏的芯片，或者芯片不符合型号。这就要求先做一个对照表，存放所有要测试芯片的真值表。再弄一个40