Q_SZZT 014-2018IC卡读写器最新.pdf

ICS Q/SZZT 深圳市证通电子股份有限公司企业标准 Q/SZZT 014-2018 IC 卡读写器 ICC reader 2018-5-08 发布 2018-5-09 实施 深圳市证通电子股份有限公司发布 Q/SZZT 014—2018 目 次 前言 II  1 范围 1  2 规范性引用文件 1  3 术语和定义 2  4 分类和命名 2  5 技术要求 3  6 试验方法 6  7 检验规则及合格判定 10  8 标志、包装、运输、贮存 11  I Q/SZZT 014—2018 前 言 本标准依据GB/T 1.1-2009给定的规则起草。 本标准由证通电子股份有限公司知识产权办公室提出并归口。 本标准起草单位：证通电子股份有限公司知识产权办公室、研发二部。 本标准主要起草人：张卫军、张弦、段燕海、汪旭、钟富昌、曾牡英。 本标准为所代替标准历次版本的发布情况为： Q/SZZT 014—2012 II Q/SZZT 014—2018 IC 卡读写器 1 范围 本标准规定了集成电路（IC）卡读写器（以下简称读写器）的术语和定义、分类和命名、技术要求、 试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等。 本标准适用IC卡读写器产品的设计、生产和检验。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T 191-2008 包装储运图示标志 GB/T 1988-1998 信息技术信息交换用七位编码字符 GB 2312-1980 信息交换用汉字编码字符集 GB/T 2423.1-2008 电子产品基本环境试验规范 试验A：低温试验方法 GB/T 2423.2-2008 电子产品基本环境试验规范 试验B：高温试验方法 GB/T 2423.3-2016 电工电子产品基本环境试验规程 试验Ca:恒定湿热试验方法 GB/T 2423.5-1995 电子产品基本环境试验规范 试验Ea：冲击试验方法 GB/T 2423.6-1995 电子产品基本环境试验规程 试验Eb: 碰撞试验方法 GB/T 2423.8-1995 电子产品基本环境试验规范 试验Ed: 自由跌落方法 GB/T 2423.10-