（毕业设计论文）《电子器件测试仪的设计》.doc

PAGE 目 录 TOC \o 1-3 \h \z \u HYPERLINK \l _Toc292892673 摘 要 PAGEREF _Toc292892673 \h I HYPERLINK \l _Toc292892674 关键词 PAGEREF _Toc292892674 \h I HYPERLINK \l _Toc292892675 Abstract PAGEREF _Toc292892675 \h I HYPERLINK \l _Toc292892676 Key words PAGEREF _Toc292892675 \h I HYPERLINK \l _Toc292892677 1 前言 PAGEREF _Toc292892677 \h 1 HYPERLINK \l _Toc292892678 2 系统方案论证与设计 PAGEREF _Toc292892678 \h 3 HYPERLINK \l _Toc292892679 2.1 主控模块设计方案与论证 PAGEREF _Toc292892679 \h 3 HYPERLINK \l _Toc292892681 2.2 555测试模块与741测试模块设计方案与论证 4 HYPERLINK \l _Toc292892682 2.3 电容测试模块设计方案与论证 PAGEREF _Toc292892682 \h 5 HYPERLINK \l _Toc292892684 2.4二极管和三极管测试模块设计方案与论证 6 HYPERLINK \l _Toc292892685 3 测量仪总体方案设计与实现 7 HYPERLINK \l _Toc292892686 4 硬件电路设计 8 HYPERLINK \l _Toc292892687 4.1 主控模块设计 8 HYPERLINK \l _Toc292892686 4.1.1 MCS-51芯片引脚功能 8 HYPERLINK \l _Toc292892686 4.1.2 复位电路与上拉电阻设计 11 HYPERLINK \l _Toc292892686 4.1.3 电源电路与报警电路设计 12 HYPERLINK \l _Toc292892696 4.2 液晶显示模块设计 PAGEREF _Toc292892696 \h 13 HYPERLINK \l _Toc292892697 4.3 555芯片测试模块设计 PAGEREF _Toc292892697 \h 14 HYPERLINK \l _Toc292892698 4.4 741运放测试模块设计 16 HYPERLINK \l _Toc292892699 4.5 电容测试模块设计 17 HYPERLINK \l _Toc292892701 4.6二极管和三极管测试模块设计 18 HYPERLINK \l _Toc292892700 5 软件设计 19 HYPERLINK \l _Toc292892701 5.1 主程序设计 19 HYPERLINK \l _Toc292892701 5.2 555芯片测试程序设计 PAGEREF _Toc292892701 \h 19 HYPERLINK \l _Toc292892701 5.3 741运放测试程序设计 PAGEREF _Toc292892701 \h 19 HYPERLINK \l _Toc292892701 5.4电容测试程序设计 PAGEREF _Toc292892701 \h 19 HYPERLINK \l _Toc292892701 5.5二极管和三极管测试程序设计 PAGEREF _Toc292892701 \h 19 HYPERLINK \l _Toc292892702 6系统测试 PAGEREF _Toc292892702 \h 24 HYPERLINK \l _Toc292892703 7 总结 PAGEREF _Toc292892703 \h 24 HYPERLINK \l _Toc292892704 参考文献 PAGEREF _Toc292892704 \h 25 HYPERLINK \l _Toc292892705 致 谢 26 HYPERLINK \l _Toc292892706 附录A 27 HYPERLINK \l _Toc292892707 附录B 28 HYPERLINK \l _Toc292892708 附录C 28 PAGE I 电子器件测试仪 摘 要 随着电子工业的发展，对电子元器件的品质要求越来越高，为保证电子系统的正常运转，在应用中我们常常要测定电子元器件的质量。