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谱仪在水泥原材料分析中的应用
XRF谱仪在水泥原材料分析中的应用吉昂 分析原料、生料、熟料和成品中的主要成份有NaO、MgO、Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3,有时还要分析Cl及痕量元素等。国外早在二十年前就对水泥中Tl、Pb、Cd、Cr、Zn等痕量元素的分析给予重够的重视[1~2]。基于生产水泥时有时使用工业废渣或旧轮胎等,痕量及有害元素的分析就显得十分重要。 XRF谱仪 以Panalytical为例 WDXRF: MagiX、CubiX、Venus200 EDXRF: MiniPal,MiniMate Taiheiyo’s Ofunato 工厂用PW2606谱仪进行常规分析,PW2404做痕量元素分析。大连日本小野田用MagiX对常规和痕量元素同时进行分析。 基础知识可参考 1.X射线荧光光谱分析 吉昂 陶光仪 卓尚军 罗立强 编箸,中国科学院研究教材丛书,科学出版社,2003年 2.能量色散X射线荧光光谱分析 曹利国 成都科技大学出版社,1998年 本文就分析对象、基体校正、能量色散和波长色散谱仪在分析分析中应用等方面作简单介绍。 ? 分析对象 主要成份有NaO、MgO、Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3,有时还要分析Cl。 水泥中待分析微量元素含量范围及检测限 (ppm) 基体效应1、元素间相互影响 1、元素间相互影响 A、从表1看元素间存在吸收增强效应,Z+1元素均可激发Z元素,现以XRF分析专用系列水泥生料(GSB 08-1110-1999)为对象用MagiX分析结果为例说明问题。 Al2O3 Al2O3 OF WSB SiO2分析结果 CaO分析结果 结论 以粉末压片法分析GSB 08-1110-1999标样的校正曲线表明:在该标样的浓度范围内,直接用实验校正法制定校正曲线时,其RMS、K 和校正曲线值与标样值均满足质量控制要求。 结果表明:生料的元素间吸收增强效应可以忽略。 2、颗粒度效应 颗粒度效应 从上图可以看出,颗粒度效应有两方面: 颗粒大小,即粒径; 颗粒均匀性。 颗粒度影响 增加研磨时间,并不只是减少平均粒径,而是可以更小的颗粒填允两个较大的颗粒间的空隙,密度增加,使样品表面更平。 逃逸深度相对于颗粒大小是相当小的情况,阴影效应(shadow effect)是有意义的,反之如果逃逸深度是大的,则楔入效应(wedge effect)是有意义的。 3、矿物结构效应 生料是由石灰石、粘土、粉砂岩或砂岩、硫酸渣及煤灰等和铁矿石等混合而成,所分析的元素与这几种矿物的来源和矿物结构效应有关。石灰石是水泥配料中主要成分,约占总量的80%左右,我国目前水泥厂使用的石灰岩,按地质年代分从寒武系到三叠系;按石灰岩成因区分,既有沉积岩,又有变质岩;按化学成分CaO的含量 55.2%到30.0%。。 矿物结构效应 矿物相结构差异引起 2? 位移和元素在不同相中质量吸收系数的差异,使强度产生变化。以GSB 08-1110-1999标样和工厂实际参比样为对象来说明该问题 矿物效应引起2 ?角度的变化 Al2O3-1 Al2O3-2 Al2O3-3 Al2O3-4 不同矿物来源配制的生料中CaO分析 不同矿物来源配制的生料中CaO分析经验系数校正 不同矿物来源配制的生料中CaO分析经验系数校正 不同矿物来源配制的生料中SiO2分析 不同矿物来源配制的生料中Fe2O3分析 结论 矿物效应和颗粒度效应是生料分析结果误差主要来源; 以改变截距使 曲线平移的方法校正矿物效应和颗粒度效应有时虽然可行,但数据在很大程度上不可信。 粉末压片法的问题很复杂,无论在理论上还是实践上均不是简单的,在目前要予以解释是很困难的。 如何解决颗粒度和矿物效应 用熔融法,在时间上是能满足要求的;但可获得最准确的结果; 使用粉末压片法,需在标样与试样诸矿物相匹配的情况下,并有足够的数量。 用经验系数法对所测元素进行校正亦可获得可用于生产质量控制的结果。 数学校正方法1.SiO2的校正 2.Al2O3的校正 3.CaO的校正 4.Fe2O3的校正 熔融法 要有材质为5%Au95%Pt的铂金坩埚及模具,高温炉最高温度不得低于12000C, 熔剂有无水四硼酸锂、偏硼酸锂及其混合物,如A12(66%Li2B4O7+34%LiBO2)熔剂。 用A12熔剂与试样比例建议使用表2中所推荐的方法。表4中所用熔融时间应根据熔融设 备确定,若熔融设备无搅拌功能,应人工将熔融体摇动三次以上,保证熔融体均匀,浇铸前, 模具加热至红,浇铸后,冷却温度应根据试样选择,保证玻璃片透明、无折晶。 熔剂98%Li2B4O7+2%NaI。0.700克样+7.00克熔剂。7000C预热5分钟,加热至11500C熔
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