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磁敏感加权成像在弥漫性轴索损伤中诊断价值 　　摘要：目的 探讨磁敏感加权成像（SWI）对弥漫性轴索损伤（DAI）的诊断价值。方法 对21例临床确诊为DAI的患者分别行常规磁共振成像（MRI）扫描及SWI扫描，将SWI图像与常规MRI序列对比分析，并由两名放射科医师对MRI常规序列图像及SWI图像进行独立诊断及计数，比较不同序列计数的差异性，并分析两名医师组间分析的一致性。结果 SWI显示DAI 病灶主要分布于皮髓质交界以及白质区域，其次位于胼胝体和基底节区；病灶表现为点状、斑片状、条状、类圆形或团块状边界清晰明显低信号影；21例弥漫性轴索损伤，SWI、TSE、FLAIR及DWI检出病灶数分别为426个、65个、128个、304个；检出的阳性患者例数分别为18例、6例、11例、13例；检出率分别为85.7%、28.6%、52.4%、61.9%。SWI 序列显示DAI患者脑内小出血灶的敏感性明显高于TSE、FLAIR、和DWI序列，其对DAI患者及病灶的检出具有明显的优势，差异有统计学意义（P0.01）。结论 SWI对弥漫性轴索损伤诊断的敏感性高于常规MRI序列，特别是对小出血灶的显示优于常规MRI序列。 　　关键词：弥漫性轴索损伤；磁敏感加权成像；磁共振成像 　　中图分类号：R651.1 文献标识码：B 　　doi：10.3969/j.issn.1672-1349.2014.04.040 　　文章编号：1672-1349（2014）04-0460-02 　　弥漫性轴索损伤（diffuse axonal injury，DAI）又称脑白质剪切伤，是由脑灰白质受到剪切力作用后引起的，以脑内轴索广泛水肿、断裂以及并行小血管损伤的严重的闭合性、弥漫性脑损伤。随着交通伤尤其是高速公路交通伤的日益增多，DAI的发病率呈明显上升趋势。研究表明，由剪切力造成的脑实质内出血及非出血性小病灶是导致脑外伤（traumatic brain injury，TBI） 患者死亡、植物生存状态及严重神经功能障碍的重要原因[1]，与患者外伤后的症状、体征、转归及预后密切相关。但CT和常规磁共振成像（MRI）检查对DAI病灶的检出率较低，不能满足临床诊断的要求。磁敏感加权成像（susceptibility weighted imaging，SWI）是观察细微的血管结构、微血栓及程度不一的微出血灶，鉴别出血及其降解产物的最为敏感的序列[2-4]。本研究将SWI与常规MRI序列进行比较，旨在分析SWI在DAI中的诊断价值。 　　1 资料与方法 　　1.1 一般资料 收集2011年8月―2013年2月在我院临床确诊为DAI的患者21例，其中男16例，女5例，年龄12岁～68岁，平均41.5岁，均无头部手术史及神经系统疾病史，CT检查未发现明显异常或者损伤灶不位于典型部位，外伤后有意识障碍或一过性意识障碍，外伤后2周内行头颅MRI及SWI检查的，图像无伪影，可清晰诊断DAI的首次闭合性脑外伤患者。 　　1.2 MRI检查方法 采用Siemens Magnetom Avanto1.5T磁共振成像系统，仰卧位，头颈联合8通道头颅相控阵线圈。常规横断位（T1WI、T2WI、FLAIR）、DWI及横断位SWI扫描。各序列扫描参数如下：①常规扫描，常规TSE序列：T1WI轴位（TR=195.0 ms，TE=4.8 ms），T2WI轴位（TR=4 000 ms，TE=98.0 ms），FLAIR 序列T2WI（TR=11 070 ms，TE=111 ms，TI=2 500 ms） 及SE序列EPI-DWI（Diffusion weighted imaging）（TR=2 900 ms，TE=89 ms，b 值为1 000 s/mm2），层厚=3.0 mm，层间距=0.6 mm，矩阵=256×256，FOV=240 mm×240 mm。②SWI序列，高分辨率3D 扰相位梯度回波（3DFLASH），TR=49 ms，TE=40 ms，反转角15°，FOV 230×201，矩阵256×202，激励次数1，层厚2 mm；通过Siemens SWI后处理软件自动得到校正的相位图、强度图、SWI图及最小密度投影图。 　　1.3 图像分析 由两名有经验的放射科医师对MRI常规序列图像（T1WI、T2WI、FLAIR及DWI）、SWI图像进行独立诊断及计数。常规扫描序列中任何一个序列可以检出病灶即判断为检出病灶。 　　1.4 统计学处理 应用SPSS15.0统计软件，通过Chi-square test检验比较SWI与常规MRI、TSE、FLAIR 及DWI 序列在DAI病灶检出率之间存在的差异。应用组内相关系数（introclass correlation，ICC）评价两位评估