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测试接口原理和电源芯片应用案例 　　摘要：基于对IC测试接口原理和系统结构的阐释，具体针对型号为SL431L的电源芯片，提出改进测试电路的方法，电压测试值的波动范围小于3mV。 　　关键词:测试系统结构，测试接口，芯片测试 　　Abstract: Based on the principals of IC test interface and the structures of test systerm, methods of improving test circuits on type SL431L power IC is proposed. The change rang of measurement results be within 3mV. 　　Key words: test system structure, test interface, IC test 　　 　　1. 引言 　　 　　阐释IC的测试接口原理和系统结构，对我们构建具体芯片测试电路很有裨益[1-2]。出现于1970年代的三端稳压芯片，主要指标是输出电压的稳定度，其参考电压容限被测试业界约定在0.5%或1%之内。 　　 　　2. 接口要点 　　 　　2.1 一般原理 　　测试的三框图告诉我们：沿着信号流向，由输入向量提供模块，至被测芯片或系统，再到比较与输出报告单元[3-4]。 　　 　　2.2 系统框图 　　基于总线的测试系统框图示于图1。 　　 　　图1 系统框图 　　系统的各个板卡通过总线进行数据连接和交换。其中，我们关心待测器件（DUT，Device Under Test）和测试接口板。 　　功能测试过程：计算机把预先生成的测试向量送到单片机系统，单片机控制通道板，既把信号电平转换为测试所需的电平，又把转换后的向量波形施加到DUT的输入管脚，接着，将检测到的DUT输出，通过总线传到单片机进行判断处理。 　　直流参数测试过程：向DUT施加直流参数测试条件，通过精确量测单元（PMU ，precious measurement unit）实现DUT直流参数的精测。 　　 　　2.3 接口思想 　　接口电路旨在对两个模块之间的控制流与数据流的管理，一般针对电压、电流和时序等参量，重要约束为阻抗匹配，其一般原则是从DUT索取能量最少，对其扰动也最小。 　　基于上述原理性的阐释，需要测试工程师不断地改善测试电路，以期获得最优化的测试结果。 　　本文主要讨论直流参数测试的电路改进问题。具体针对（1）测试机系统中接口之间的阻抗匹配问题；（2）对直接测量不方便或将出现较大偏差的情形，必须应用间接测量。 　　 　　3. 测试案例 　　 　　我们选择一颗型号为431的电源芯片进行讨论。这颗精密可调输出的稳压芯片，具有三个管脚，分别为阳极（简称为A）、阴极（C）和稳压输出端（R），其稳压输出电压的典型值为1.250V。 　　这款芯片的测试项目主要有：开路/短路测试Continuity、输出（参考）电压Vref、输出电压纹波抑制?荪Vref/?荪Vca、输出电流Iref、关断电流Ikoff 和输出阻抗Zka。 　　我们这里仅讨论Vref和Iref的测量问题。其中，Vref为431L芯片稳压输出端R的对地输出电压，单位为V；Iref为R端的拉电流值，单位为μA。 　　 　　3.1 Vref的量测 　　图2是Vref测试的原理电路。测试方法是施加精测探头PMU2使C和A极之间得电，在R端用探头PMU1量测。 　　 　　图2 Vref测试电路 　　实测中发现的问题是：由测试机的精测探头所量测之值与外接Fluke电表（四位半显示）经常产生差异，范围是2~3mV。 　　为了更准确地测量，更大程度地消除干扰，我们做了三方面的改进工作。 　　●为了消除负载的影响，可在量测Vref端加一个电压缓冲器（运算放大器跟随），然后再量测。 　　●由于探头点测时的长导线影响，测值大约比终测时大3~4mV。曾试过应用同轴电缆（见图3）代替长导线，约可减少1~2mV误差，阻抗匹配效果不明显。 　　 　　图3 同轴电缆接线图 　　●进一步消除同轴线上的干扰，间接测量法可借助运算放大单元（详见图4），差动放大（1）R端和（2）外接参考电压源，接着由PMU现输出值推算出Vref数值，实验证明此法的准确性令人满意（具体数据分析参见表1）。 　　 　　图4 Vref测试改进电路 　　 　　3.2 Iref的量测 　　测试电路如图5所示。 灌电流Iref测试方法：在采样电阻两端，由PMU2和PMU 1分别作用以电压，利用欧姆定律，除以电阻R1，可间接得出Iref的值。 　　 　　图5 Iref测试电路