专利计量指标的研究进展及层次分析.docVIP

专利计量指标的研究进展及层次分析 　　[摘要]有效地利用专利计量指标可以挖掘专利数据中大量有价值的技术与法律信息。遗憾的是目前专利计量指标在我国的运用并不十分理想。本文在对专利计量指标相关研究进行全面梳理的基础上，分析当前专利计量指标研究中存在的主要问题与不足；根据专利文献的内在特性，将现有的专利计量指标划分为数量、质量、科技和速度4个层次。厘清专利计量指标的层次可以引导我们正确、有效的选择和使用相关指标，使专利信息更好地为企业技术创新服务。 　　[关键词]专利计量　指标　专利质量　指标层次 　　[分类号]G350 　　1　引言 　　专利作为技术信息的载体，自20世纪以来开始受到学术界的广泛关注。专利文献有着类似学术文献的特点，对专利文献各著录项进行深入分析，可以发现许多有价值的法律信息和技术信息。因而，学者们开始尝试将期刊文献领域的计量分析方法用于专利文献研究，专利计量分析应运而生。“专利计量”(patent bibli―omatHcs或patentometries)最早由Francis Narin于1994年提出，是指将数学和统计学的方法运用在专利研究中，以探索和挖掘专利文献的结构、数量以及变化规律等内在价值的计量方法。要对专利文献进行计量分析，计量指标的选择与构建必不可少。有鉴于专利信息在当今产业发展中扮演着越来越重要的角色，专利计量指标的构建与运用成为专利信息研究的一个重要议题。2007年在西班牙马德里举行的第11届科学计量与信息计量学国际研讨会的征文范畴之一就是“专利计量指标”研究，由此可见，专利计量指标已经成为当前研究的热点。 　　2　专利计量指标的研究进展 　　早在1837年，美国就开始运用专利统计结果作为衡量经济绩效的指标。由于当时专利文献的获取比较困难，专利指标限于专利授权数、重大发明数等一些较为基本和直观的指标。Seidel首先提出以计量方式分析专利文献，他建议利用卡片记录的方式，运用引用文献分析方法处理专利文献中所列出的引用信息，以进一步了解各项技术及研究之间的关系。但当时这一方法并未引起足够的注意，相关研究的发展也非常缓慢。1986年，美国知识产权研究公司(简称CHI)与美国科技信息所(Institute for Scientific Information，简称ISI)合作将期刊文献引用分析应用到专利领域，提供专利文献被引用的信息，自此，专利计量指标的研究开始活跃起来。从相关研究文献的发展历史来看，我们可以发现专利计量指标的研究经历了由简单到复杂，由数量、质量指标不断向科学技术与专利速度等内涵信息挖掘的发展过程。有关专利计量指标的研究概括起来有三类，即专利计量指标的必要性研究、专利计量指标的可行性研究以及专利计量指标体系的开发与应用研究。 　　2.1　专利计量指标研究的必要性 　　早期的专利计量研究大部分是围绕专利文献的本质探讨专利计量指标构建与研究的必要性。这类研究多是从专利文献的独特性出发，其基本观点是：对专利文献的分析能有助于我们更好地了解技术的发展历程以及技术的未来发展趋势，因而有必要建立专利计量指标体系，并对其进行深入的分析与研究。这类研究的主要分析方法是通过对期刊文献内容与专利文献内容之间的重叠进行探讨，例如，Allenand Oppenheimer分析了加拿大期刊所刊登的文献与专利文献的内容重叠程度，Eisenschitz等则针对药物及食品的专利，透过作者的交叉检索了解相关专利文献与期刊文献的重叠状况。对专利计量指标必要性的研究结论趋于一致，即：期刊文献与专利文献之间的重叠性是有限的，与其他技术文献资源相比，专利文献具有其独特性。因而，专利文献是了解相关产业的技术历程与进展的重要资源，深入研究专利计量指标，构建有效的专利计量指标体系非常必要。 　　2.2　专利计量指标建立的可行性 　　随着研究的进展与深入，大量文献开始对专利计量指标建立的可行性和有效性展开分析。这类研究的主要目的是验证专利计量指标分析结果的信度与效度，主要方法是就专利计量分析所建立的各类指标与基于期刊文献建立的计量指标或其他方法建立的指标进行比较，从而说明专利计量指标的理论基础与研究成果的信度和效度。Narin透过专利数的计算及发明人分布的研究，将文献计量分析中的洛特卡定律(Lot―ka’s Law)运用于专利文献计量分析中，验证了专利文献的洛特卡特性。Narin和Hamilton利用文献计量、专利计量与连接计量三种不同文献的计量分析了各种公共研究计划的执行成效，研究表明三种不同的计量方法的结果具有一致性，因此专利计量指标分析的结果有一定的可信度与有效性。除了验证文献计量研究方法对专利文献的适用性，如何从产业发展的角度解读专利计量分析所建立的各项指标，也是专利计量分析适用性的相关讨论中常被提及的议