通过滑移采样边沿精确测量ADC驱动电路稳定时间.PDF

通过滑移采样边沿精确测量ADC 驱动电路稳定时间 模数转换器(ADC)的线性度及抗失真性能取决于对模拟输入的稳定能力。本文 阐述了一个方法，可针对驱动高分辨率ADC 的运算放大器的稳定行为进行绘图。 该图形曲线表征了运算放大器结合ADC 的稳定时间特性。 Rajiv Mantri，Bhaskar Goswami，德州仪器 模数转换器(ADC)的线性度及抗失真性能取决于对模拟输入的稳定能力。因此，对高分辨率 （≥14 位）高速ADC 的驱动电路（包括运算放大器、模拟多路复用器以及其它相关联的电路）稳 定时间的测量就显得极为重要。 此方法论述了对驱动高分辨率ADC 的运算放大器的稳定行为曲线的绘制。该曲线表征了运算 放大器结合ADC 以及系统中的运算放大器的稳定时间特性。测量的精度可通过进行平均化处理 (averaging)得到改善，使其高于ADC 的分辨率。该方法还得益于高分辨率ADC 本身以助于绘制 稳定行为曲线，从而使我们可对系统中运算放大器结合ADC 的稳定时间进行测量。 绪论 众多的现代化数据采集系统都整合了高速、高分辨率的ADC[参考文献 1]。基于开关电容的 CMOS 型ADC 由于具有低成本及低功耗，因而常用于上述系统的设计。此类ADC 采用了非缓冲 的前端直接耦合至采样网络。为了以最小噪声及失真的理想信