嵌入式系统CRC循环冗余校验算法设计研究-南京信息工程大学学报.PDF

文章编号:1674-7070 (2012)03-0258-08 嵌入式系统CRC 循环冗余校验算法设计研究 彭伟1 摘要 0 引言 介绍了 CRC 循环冗余校验基本原 ， 理及生成多项式表示 分别研究了嵌入 、 嵌入式系统微控制器与外部数据采集器件之间 嵌入式系统内 式系统CRC-8-Dallas / Maxim 与 CRC-16- 多个微控制器之间以及微控制器与上位主机之间通过各种接口传输 IBM ． 生成多项式及其硬件描述 以 数据时， ． ， DS18B20 器件的 ROM ID / Scratchpad 数 被噪声影响的问题不可避免 为提高数据传输的可靠性 需 据校验及 Modbus 总线网络数据帧校验 要对传输过程进行差错控制［1-2］． 循环冗余校验(Cyclic Redundancy ， 为例 通过对生成多项式及硬件描述的 Check ，CRC) 、 ， 由于编 解码方法简单 检错与纠错能力强而被广泛应 分析研究得出了基本比特型校验算法设 ． Dallas / Maxim DS18B20 Modbus ， 用 本文将以 的传感器 及 总线网络数 计 在数学推导的基础上得出了其改进 、 的比特型校验算法及单字节 半字节查 CRC ， CRC-8 、CRC-16 据帧 校验为例 分析研究典型的 校验生成多项 ． ， 表校验算法 为获得更高的校验速度 提 ， ， ， 式及硬件描述 设计对应的基本比特型校验算法 通过数学推导 进 ， 出了一种基于块及多表的校验算法 比 、 ． 较了几种校验算法的 ROM 空间占用与 一步得出改进的比特型校验算法 单字节及半字节查表校验算法 为 ． CRC 校验处理速度 所设计的 校验程序 ， ， 获得更高的校验处理速度 提出一种基于块及多表的校验算法 并比 为嵌入式系统数据的可靠传输提供了重 ROM ， CRC 较各种算法的码表所占用 空间及校验处理速度 所设计的 要保证． 关键词 校验算法将为嵌入式系统数据传输提供重要保证． ; ; ; 嵌入式 循环冗余校验 差错控制