l9-像质评价-(精品课件).pptVIP

以望远镜系统为例，进行简单介绍。详细解说以后展开。 专利的一般特性 瑞利判断是一种较为严格的像质评价方法，它主要适用于小像差光学系统，例如望远物镜、显微物镜、微缩物镜和制版物镜等对成像质量要求较高的系统。 以前，是球差积分计算，量大不严格，有缺陷。 由于绘制了多个物点的波像差，设计者既能了解波面变形程度，也能了解变形部分的面积大小。因此，瑞利判断法正逐步克服其缺陷，在小像差系统中获得越来越广泛的应用。 斯托列尔准则同样是一种高质量的像质评价标准，它也只适用于小像差光学系统。但由于其计算相当复杂，过去仅作为实验方法使用，很少作为计算评价方法使用。 能获取比单一中心点亮度指标更多的信息，因此，它已成为中心点亮度判别方法的补充和替代方法，得到广泛应用。 分辨率作为光学系统成像质量的评价方法并不是一种完善的方法，这是因为：①它只适合于大像差系统。光学系统的分辨率与其像差大小直接有关，即像差可降低光学系统的分辨率。但在小像差光学系统（例如望远物镜、显微物镜）中，实际分辨率几乎只与系统的相对孔径（即衍射现像）有关，受像差的影响很小。只有在大像差光学系统（例如照相物镜、投影物镜）中，分辨率是与系统的像差有关的，并常以分辨率作为系统的成像质量指标。②它与实际情况存在差异。由于用于分辨率检测的鉴别率板为黑白相间的条纹，这与实际物体的亮度背景有着很大的差别；此外，对同一光学系统，使用同一块鉴别率板来检测其分辨率，由于照明条件和接收器的不同，其检测结果也是不相同的。③它存在伪分辨现象。对照相物镜等作分辨率检测时，当鉴别率板的某一组条纹已不能分辨时，但对更密一组的条纹反而可以分辨，这是因为对比度反转而造成的。因此，用分辨率来评价光学系统的成像质量也不是一种严格而可靠的像质评价方法，但由于其指标单一，且便于测量，在光学系统的像质检测中得到了广泛应用。 分辨率反映光学系统分辨物体细节的能力，是一个很重要的指标参数。因此，也可以用分辨率来作为光学系统的成像质量评价方法。 对大像差光学系统（例如照相物镜等），利用几何光学中的光线追迹方法可以精确地表示出点物体的成像情况。其作法是把光学系统入瞳的一半或全部分成为大量的等面积小面元，并把发自物点且穿过每一个小面元中心的光线，认为是代表通过入瞳上小面元的光能量。在成像面上，追迹光线的点子分布密度就代表像点的光强或光亮度。因此对同一物点，追迹的光线条数越多，像面上的点子数就越多 ，越能精确地反映出像面上的光强度分布情况。实验表明，在大像差光学系统中，用几何光线追迹所确定的光能分布与实际成像情况的光强度分布是相当符合的。 轴外点，如何判断各种像差 颜色还原，特殊镜头除外 由于光学传递函数既与光学系统的像差有关，又与光学系统的衍射效果有关，故用它来评价光学系统的成像质量，具有客观和可靠的优点，并能同时运用于小像差光学系统和大像差光学系统。 典型曲线 判断准则 左边为子午面情况，右边为弧矢面情况。图中绘出了不同波长（由曲线虚实、深浅表示）、不同视场（从上到下三排分别为1、0.707和0视场）、不同孔径（由横坐标表示）的光线到达高斯像面时与近轴理想光线的光程差（纵坐标，单位为波长） 五、光学传递函数 第九讲 像质评价 MTF 0.1 0.03 0 II I v MTF曲线 六、光程差曲线 第九讲 像质评价 不同波长、不同视场、不同孔径的光线到达高斯像面时，与近轴理想光线的光程差。 ） 左边为子午面情况， 右边为弧矢面情况。 七、光线差曲线 第九讲 像质评价 不同波长、不同视场、不同孔径的光线到达高斯像面时，偏离高斯像点的距离。 ） 左边为子午面情况， 右边为弧矢面情况。 八、点扩散函数 第九讲 像质评价 一个理想的几何物点，经过光学系统后，其像点的能量展开情况 ） 九、线扩散函数 第九讲 像质评价 指子午面或弧矢面内的几何线，经过光学系统后，其能量展开情况 ） 十、其它需要评价的成像情况 第九讲 像质评价 材料特性；加工误差；安装误差 ） 光谱透过率分析 整体能量透过率分析 材质影响分析 环境影响分析 鬼像分析 公差分析Tolerancing 十、其它需要评价的成像情况 第九讲 像质评价 ） 公差分析Tolerancing 80% probability of Achieving ~0.88 MTF for Field 1 -or- 80% of built systems will have about 0.88 MTF or better at Field 1 整体示意图 利用点列图法来评价成像质量时，需要作大量的光路计算，一般要计算上百条甚至数百条光线，因此其工作量非常之大，只有利用计算机才能实现上述计算任务。但它又是一种简便易行、形象直观的像质评价方法，因此常在大像差的照