如何运用一台数码显微镜分析经过或未经过制备的地质样品.PDF

见微知著，洞见未来 地球科学应用领域 如何运用一台数码 显微镜分析经过或未 经过制备的地质样品 Leica DVM6 M 案例研究 作者： Michael Doppler 瑞士徕卡显微系统·应用显微镜·EEMEA·销售经理 2 如何运用一台数码显微镜分析经过/未经过制备的地质样品 介绍 一百年前，偏振光显微镜就已经应用于传统的地球科学研究之中了。从那时起，随着技术的不断进步，这类显微镜 在用户友好性、人体工程学以及光学性能方面逐渐改善。时至今日，仍有一方面在原地踏步：传统的偏振光（复式） 显微镜仅适用于经过制备的样品，因为这类显微镜提供的工作距离不足以满足整个样品的检测。 这就意味着必须切割和抛光较厚、较大的地质样品，以适应复式显微镜的有限工作距离。这些样品制备对精确度的 要求极高，而在抛光片的厚度、平整度和抛光效果方面，对精确度的要求则更甚。运用带透射、偏振光[1,2] 的复式 显微镜进行检测时，标准厚度应为30 微米。 换言之，科学家检测未经制备的样品时，需要切换成工作距离较大的体视显微镜。 一台适用于经过或未经过制备样品检测的显微镜 本文阐述了地质科学家如何运用一台偏振光显微镜对经过或未经过制备的样品进行分析的：这就是 Leica DVM6 M 数码显微镜。选用适当的配件，该显微镜即可化身为半定量型偏振显微镜。 地质样品的多样性需要一系列合格的显微镜解决方案： 薄切片 抛光片 微体化石 矿物颗 岩样 岩心 显微载片 化石 粒 适用于复式显微镜的样品范围 适用于体视显微镜的样品范围 适用于Leica DVM6 M 数码显微镜检测的样品范围 如何运用一台数码显微镜分析经过/未经过制备的地质样品 3 适用于所有地质检测项目 运用适配器将Leica DVM 6 M 安装在手动或电动调焦柱上， 即可获得额外工作距离，确保地质学家能够对抛光或未抛 光的样品进行检测观察。具备高数值孔径的透射光座，提 供了适用于多样化偏振光应用领域的数码解决方案。 为透射光座配备一个偏振载物台，上面带一个旋入/旋出 偏光镜。按照上述方法设置 Leica DVM6 M，确保显微 镜适用于任何地质科学应用领域，并保证用户能够分别 观察平行和交叉偏振光下的透明样品。样品是否配有盖 玻片或样品是否系未切削的透明矿物质（例如，钻石或 指示矿物），这些并不重要。 Leica DVM6 M 能够提高地质科学家的工作效率，归因于以下优势： • 运用一台仪器即可对经过或未经过制备的样品进行灵活处理； • 全面集成环形光，外加同轴和其他照明类型，确保研究和分析样品的选项超过复式显微镜； • 高效