E1抗干扰开发系统（EFT突发干扰）.PDFVIP

E1 抗干扰开发系统（EFT 突发干扰） 定位电磁敏感点，测量瞬态电磁场的空间分布， 评估电路对瞬态电磁场的抗干扰能力 　　产品的抗干扰设计，来源于企业对产品质量的追求，同时也是电磁兼容测试标准的要求。 　　由于瞬态干扰具有快速和宽频谱等特点，传统的示波器和频谱分析仪等手段都无法准确测量瞬态电磁 场。产品的抗干扰设计，只能在产品最终测试阶段来考虑，采取的手段是屏蔽或者滤波，对外界干扰进行 隔离或者直接引到接地系统。 　　LANGER 抗干扰开发系统，采用特殊的瞬态信号发生器和瞬态电磁近场探头组，利用脉冲率测试法， 能准确测量瞬态电磁场的空间分布，评估电子产品内部关键电路的抗干扰能力，定位 PCB 板上的电磁场敏 感点，使工程师在设计阶段排除电磁敏感性问题，提高产品设计质量，增强产品的稳定性和可靠性。 　　在电磁兼容测试要求中，下列测试项目为突发干扰测试项目： ※ IEC61000-4-4（国标 GB/-17626.4）：电快速瞬变脉冲群抗扰度试验 ※ IEC61000-4-2（国标 GB/-17626.2）：静电放电抗扰度试验 ※ GJB151A/151A-CS115：电缆束注入脉冲激励传导敏感度 ※ GJB