纳米材料第四节-纳米材料的检测-不对.pptVIP

IR(红外光谱) Raman光谱 PL谱（光致发光光谱） NMR （核磁共振光谱） XRD SEM(扫描电子显微镜) TEM（投射电子显微镜） * * 第四节 纳米结构的检测技术 基本原理 图1所示为STM的基本原理图。图中圆圈为原子，中间深色部分为原子核，周围浅色部分和分散的黑点电子云。上面6个原子代表探针针尖，下面11个原子代表被测试样面。 1 STM的基本原理图 STM(扫描隧道显微镜) STM(扫描隧道显微镜) STM的基本原理是基于量子隧道效应。在经典力学中，当势垒的高度比粒子的能量大时，粒子是无法越过势垒的。然而，根据量子力学原理，此时粒子穿过势垒出现在势垒另一侧的概率并不为零。这种现象称为隧道效应。 纳米结构的检测技术 当针尖和样品面的间距足够小时（小于0.4nm），在针尖和样品面间施加一偏置电压，便会产生隧道效应，电子在针尖和样品面之间流动，形成隧道电流。在相同的偏置电压作用下，随着探针同样品的间距减小，隧道电流很快增大（可增大1~2个数量级），同时针尖原子和样品面原子的电子云部分重叠，使两者之间的相互作用大大增强。由于隧道电流随距离呈指数形式变化，因此，样品面上由于电子排列相成的“凸凹不平”的表面，导致隧道电流剧烈变化。检测变化的隧道电流经过计算机处理，便能得到样品面的原子排列情况。 STM具有空前的高分辨率（横向可达0.1nm，纵向