在AlteraFPGA设备中使用循环冗余检验（R）实现错误的检查和恢复（陈少华_毕设翻译）.docVIP

在Altera FPGA设备中使用循环冗余检验（CRC）实现错误的检查和恢复 简介： 在诸如航空，电信，系统控制和军事应用等关键应用中，重要的是能够实现丁面这些功能: 1、 确保在FPGA器件屮存储的配置数据是正确无误的。 2、 能够预告系统中的偶然的配置错误。 专用电路被内置于某些设备屮，它们组成了循环冗余校验（CRC）的，可以随意为SEUs 空间单粒子翻转效应（Single Event Upset, SEU）连续自动检查的错误检测功能。 （注：SEU是由带电粒子投射到集成电路器件的敏感区域引起的，通常会导致FPGA屮 的存储单元内容改变（即位翻转），带来的后果可能是计算结果的错误、程序执行序列错误， 甚至是系统的崩溃。） 从4.1版开始。Quamis ? II软件（在FPGA器件中）就已经提供了 CRC特征的错误检测功 能。下面系列的器件都支持Quartus II CRC检测功能： ■ Stratix? IV ■ Stratix III ■ Stratix II ■ Stratix II GX ■ Stratix ■ Stratix GX Cyclone? III Stratix GX Cyclone II Cyclone II Cyclone Cyclone ■ Stratix II ■ Stratix II GX ■ Stratix 关于Stratix IV, Strati