集成电路测试仪设计-（毕业论文设计）.docVIP

北华大学毕业设计（论文） - PAGE 30 - 摘 要 随着数字集成电路日益广泛的应用，其相关的测试技术也显得愈发重要。为了保证数字集成电路的功能和性能参数符合技术要求，在集成电路的设计验证、产品检验以及现场维护等方面都需要对集成电路进行测试。而测试设备是必不可少的工具，因此研究它们的测试技术和开发测试设备具有重要的意义。 本文所设计的集成电路测试仪采用MCS-51单片机为核心，构建数字集成电路的测试仪器，该仪器能够通过单片机程序对数字集成芯片插座进行控制和测试，可以完成对TTL74/54、CMOS4000/4500系列芯片的测试。测试仪使用了串口通信方式的LCD汉字液晶显示器，以便节省出更多的单片机接口供测试更多管脚的集成电路。针对不同型号的集成电路Vcc和GND位置不同，在电路中使用了P沟道CMOS管来作为Vcc切换开关。测试仪设计了总线标准接口RS-232，能够实现与PC机的联机。通过对大量的TTL、CMOS集成电路的分析，建立了测试数据库。通过编写测试程序，最终以速度快、准确率高的测试结果实现了测试TTL74/54、CMOS4000/4500系列芯片的任务。 论文第一章阐述此次设计的背景及意义、国内外数字电路测试系统现状、本文要解决的主要问题。第二章对系统总体方案进行描述。第三章详细说明整个硬件系统的构成。第四章主要说明软件测试的实现。第五章叙述测试结果。 通过