用马赫-曾德干涉法观测光感应折射率的微小变化杨立森陈宝.pptVIP

* * 用马赫-曾德干涉法观测光感应折射率的微小变化 杨立森 陈宝东（内蒙古师范大学物理与电子信息学院 呼和浩特，010022） 摘要:光折变晶体中的光感应的折射率变化很小，一般在10－3以下。一般方法很难对其观察和测量，马赫-曾德干涉仪的原理提供了这种可能，它可以通过观测马赫-曾德干涉条纹的摆动幅度可方便地观察和测量折射率的微小变化。 关键词: 马赫-泽德干涉仪; 光感应折射率变化;光折变晶体; 1.引言 光折变效应[1](photorefractive effect)是光致折射率改变效应(photoinduced refractive index change effect)的简称。它是电光材料在光辐照下由光强的空间分布引起材料折射率相应变化的一种非线性光学现象。 光折变效应的发现，开创了用全光学方法制作波导与波导阵列的新方法，它具有实时、简便、低成本、快速等优点。其主要原理是利用介质的非线性光学效应，通过入射光场的空间分布得到介质中折射率的空间分布，从而制作出波导、波导阵列乃至整个集成光路，达到导光和控光的目的[2]。 虽然对光折变材料的研究取得了长足的进展，但是目前的光折变材料的光致折射率改变仍然很低，对其写入的波导与波导阵列的实时观测对构造合格的光子元件显得尤为重要，我们采用搭建的马赫-曾德干涉仪，通过观测马赫-曾德干涉