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X射线检测底片各类假缺陷分析 范靳科 (太原重工股份有限公司理化检定中心无损检测室)030024 摘要：本文主要叙述对X射线检测底片中可能出现的各类假缺陷，就其出现的原因进行分析，帮助我们准确识别缺陷和提高效率。 ABSTRACT：This paper describes all kinds of flaws that may appear in the film X-ray detection appear to help us accurately identify defects and improve efficiency. 关键词：X射线、底片、缺陷 Key word：X-ray、film、flaw 前言 焊接结构件是工业生产上最为常用的一种形式。X射线检测便是最为重要的一种检测方法，而X射线的底片评定是X射线检测技术的重要工作之一，将在一定程度上影响探伤的准确性、可靠性。透照条件、暗室环境、显影定影、晾干干燥等条件都会导致底片的失真，从而产生显影不足或过度显影、划伤、折压痕、水迹、跑光、静电、指纹等缺陷。所以底片的各类缺陷的准确识别非常重要。 准确识别各类缺陷就是要把焊缝内部缺陷的情况真实、清晰的反映出来，尽量减少可掩盖真实影像的假缺陷，避免繁锁的重复工作和材料的浪费，提高工作技能和效率。缺陷包括工件缺陷和假缺陷，工件缺陷又分表面缺陷和内部缺陷。而假缺陷通常则可分为早