嵌入式系统验.pptVIP

嵌入式系统实验 ARM的A/D 接口实验 实验目的 实验内容 预备知识 实验设备 模/数转换 采样 量化 编码 分类 S3C44B0 AD转换器 A/D控制寄存器 采样比率寄存器 采样比率寄存器 转换结果数据寄存器 实验说明 启动采样 获取转换结果 思考题 * * 提纲 1 3 2 4 5 基础知识 实验目的 实验内容 预备知识 实验设备 6 实验过程 7 思考题 一 实验目的 熟悉ARM 本身自带的八路十位A/D 控制器及相应寄存器。 编程实现ARM 系统的A/D 功能。 掌握带有A/D 的CPU 编程实现A/D 功能的主要方法。 二 实验内容 学习A/D 接口原理，了解实现A/D 系统对于系统的软件和硬件要求。阅读ARM 芯片文档，掌握ARM 的A/D 相关寄存器的功能，熟悉ARM 系统硬件的A/D 相关接口。利用外部模拟信号编程实现ARM 循环采集全部前4 路通道，并且在超级终端上显示。 三 预备知识 了解A/D采样的原理； 了解采样频率的设置； 四 实验设备 ARM嵌入式开发平台 用于ARM7TDMI的JTAG仿真器 五 基础知识 我们经常遇到的物理参数，如电流、电压、温度、压力、速度……电量或非电量都是模拟量。 模拟量的大小是连续分布的，且经常也是时间上的连续函数。 要将模拟量转换成数字信号需经 采样——量化——编码 三个基本过程（数字化过程） 五 基础知识 按采样定理对模拟信号进行等时间间隔采样，将得到的一系列时域上的样值去代替u=f(t)，即用u0、u1、…un代替u=f(t)。 这些样值在时间上是离散的值，但在幅度上仍然是连续模拟量。 五 基础知识 在幅值上再用离散值来表示。方法是用一个量化因子Q去度量；u0、u1、…，便得到整量化的数字量。 u0=2.4Q 2Q 010 u1=4.0Q 4Q 100 u2=5.2Q 5Q 101 u3=5.8Q 5Q 101 五 基础知识 将整量化后的数字量进行编码，以便读入和识别； 编码仅是对数字量的一种处理方法。 例如：Q=0.5V/格，设用三位（二进编码） 五 基础知识 按被转换的模拟量类型可分为： 时间/数字 电压/数字 机械变量/数字 电压/数字转换器： 按转换方式可分为：直接转换、间接转换。 按输出方式分可分为：并行、串行、串并行。 按转换原理可分为：计数式、比较式。 按转换速度可分为：低速、中速、高速。 按转换精度和分辨率可分为：3位、4位、8位、10位、12位、14位、16位等。 五 基础知识 S3C44B0集成了一个８路10位A/D转换器，它是一个逐次比较型的ADC内部结构中包括模拟输入多路复用器，自动调零比较器，时钟产生器，10 位逐次逼近寄存器（SAR）。这个ADC 还提供可编程选择的睡眠模式，可以节电减少功率损失。 五 基础知识 五 基础知识 五 基础知识 五 基础知识 五 基础知识 设置A/D采样的时钟频率 假定CPU主时钟的频率为66MHZ，并且将A/C采样预分频寄存器（ADCPSR）置为20，而完成一次转换至少需要16个时钟周期，则采样频率可以采用下面公式计算： f ＝ 66M / (2 * (20 + 1))/16 ＝ 98.2 KHZ ＝ 10.2us 下面代码实现该功能： rADCPSR=20; 值得注意的就是：尽管芯片的最大转换速率为100KSPS，但由于S3C44B0内部没有采样保持电路，所以要精确测量一个输入信号，输入信号的频率最好低于100HZ。 五 基础知识 将ADCCON寄存器的BIT0置1可以启动转换，当启动转换后，该位会被自动清除。同时启动转换时还需要指定转换通道 下面代码启动通道2的采样转换： rADCCON=0x1|(0x22); 五 基础知识 当A/D转换结束后，可以读取ADCDAT寄存器的内容 下面代码等待通道2的A/D转换，完毕后读取数据 while(!(rADCCON 0x40)); data=rADCDAT; 六 思考题 逐次逼近型的A/D 转换器原理是什么？ A/D 转换的重要指标包括哪些？ ARM 的A/D 功能的相关寄存器有哪几个，对应的地址是什么？ 如何启动ARM 开始转换A/D