2021复型技术.pptxVIP

TEM样品观察和制备;TEM样品的制备原则;;1）复型技术是制备TEM样品的技术之一，它是将金相试样表面 显微组织浮雕复制到一种很薄的膜上，然后在TEM中观察。 2）由于电子束的穿透能力较低（电子穿透固体样品的能力 主要取决于加速电压和样品物质原子序数），所以要求 TEM样品非常薄，一般在5～500nm之间。;复型材料应具备的条件;目前主要的复型方法;质厚衬度原理;研究质厚衬度的目的？ 1）了解衬度来源，正确分析显微图像。 2）为正确选择显微观察实验方法提供依据。;单个原子对入射电子的散射; 电子受原子的散射 a)被原子核弹性散射 b)被核外电子非弹性散射;散射角: 散射电子运动方向与原来入射方向之间的 夹角，用α表示。;一般用散射截面来衡量一个孤立的核外电子把入射电子散射到比散射角大的方向上去的能力。 一个孤立的核外电子非弹性散射截面σe：;一个原子序数为Z的原子有Z个核外电子，因此，一个原子把电子散射到α以外的散射截面σ0可以表示为：;透射电子显微镜小孔径角成像;物镜光阑将散射角大于α的电子挡掉，只允许散射角小于α的电子通过物镜光阑参与成像。 由于电磁物镜放大倍数较大，物平面接近前焦点，因此物镜孔径半角α与光阑直径d和物镜焦距f之间关系如下：;质厚衬度成像原理;对于非晶样品而言，入射电子透