基于SOPC的CIS扫描控制器设计与实现-计算机系统结构专业论文.docxVIP

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基于SOPC的CIS扫描控制器设计与实现-计算机系统结构专业论文

摘 要 CIS 图像传感器具有体积小、重量轻、抗震动、装配简单等特点,在地图、 广告和工程图纸等大幅面扫描领域常选用 CIS 作为其图像传感器。SOPC(System on a Programmable Chip 可编程片上系统)是基于 FPGA(Field Programmable Gate Array 现场可编程门阵列)解决方案的 SOC(System on Chip 片上系统)技术。论 文的主要工作为利用 SOPC 技术设计与实现 CIS 扫描控制器。 本文在分析研究已有扫描控制器工作原理的基础上,结合可编程逻辑技术, 提出了基于 SOPC 的 CIS 扫描控制器实现方案;通过对 CIS 图像 传感 器 CIPS305BF600 的分析,设计了基于 WM8213 模拟前端处理器(Analog Front-end Processor,简称 AFE)的 CIS 扫描驱动电路;在对 CIS 图像扫描控制过程进行研 究的基础上,通过可编程逻辑设计,实现了 AFE 模拟前端的 SPI 配置接口、像点 数据采集、动态像点校正、图像数据存储及 USB 图像数据上传等逻辑功能模块; 然后,通过逻辑封装技术对设计实现的各逻辑功能块进行自定义组件的封装,并 集成了基于 SOPC 的 CIS 扫描控制器;最后,通过对 Nios II 编程,实现了对整个 扫描过程的控制。经时序仿真和系统功能测试,研究结果达到了设计要求。 基于 SOPC 的 CIS 扫描控制器的设计实现,不仅降低了控制电路的复杂性和 成本,而且提高了扫描控制系统的性能。实现结果对高速、宽幅 CIS 扫描设备的 设计及应用,具有一定的借鉴价值。 关键词:SOPC Nios II 模拟前端处理器 WM8213 扫描控制 自定义组件 Abstract Contact image sensor is small, light, easy assembly and has a high shock resistance. It is often used in the field of scanning maps, advertising and engineering drawings as the image sensor of a large format scanner. SOPC (System on a Programmable Chip) is a SOC (System on Chip-chip system) technology based on FPGA. The papers main work is designing the CIS scanning controller based on SOPC. This article presents CIS scanning controller based on SOPC by analysis of existing scanning controller and programmable logic technology; through analysis of contact image sensor CIPS305BF600, designs the CIS scanning driver circuit using WM8213 as its analog front end; realizes the logic function module such as SPI configuration interface of WM8213、image point data collection、dynamic image point correction、image data storing and image data uploading by the USB after researching on the scanning control; introduces how to integrate Nios II and corresponding logic modules which are packaged as self-defined peripherals into SOPC; finally, discussed the method to program the Nios II to control the entire scanning process. It proves that the results meet the design requirements after timing simulation and system test. CIS scan

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