布鲁克Buker---X射线荧光光谱分析备样技术.pptVIP

X射线荧光光谱分析技术之二：制样方法 制样的目的： 1、均匀 2、重复性好 3、颗粒效应小 4、矿物效应小 5、无限厚（薄膜法除外） 分析层的厚度：无限厚 Analysed layer on the sample surface X射线荧光光谱可以分析的样品种类 固体，块状样品 金属块 矿石块 粉末状样品 矿石粉，如铁矿、煤炭 液体样品 油品 水样 块状样品的制样方法 对于金属样品 研磨 研磨+抛光（分析轻元素时需要） 块状样品的制样方法 对于矿样 考虑到样品的不均匀性，一般先制成粉末 也可以直接进行定性或半定量分析 粉末样品的制样方法 直接装入液体杯中测量，称为松散样品 压片制样 特点：简单、快速、节省 存在颗粒效应、矿物效应 熔融制样 制样精密度好 均匀性好 可以人工配制标样 消除了颗粒效应、矿物效应 缺点：制样麻烦、成本高、影响检出限 松散样品 Na to U absorption in foil He flushing required ? for qualitative and semiquantitative analysis for quantitative analysis in special cases only（一般是压不成片的时候） 压片制样 press as pure pellet on a support of b