基于mapreduce的液晶屏缺陷检测技术研究-计算机科学与技术专业论文.docxVIP

合 肥 工 业 大 学 学历硕士学位论文 YIII 13II oIl2I 118113I 12I iol 11 基于MapReduce的液晶屏缺陷检测技术研究 作者姓名： 夏瞳云 指导教师： 毖』三越副塾拯 学科专业： 让篡扭型堂皇撞苤 研究方向： 厶王萱能拯基廛旦 2016年4月 万方数据  A Dissertation Submitted for the Degree of Master Research of defect inspection of TFT-LCD based on MapReduce By Xia Xiaoyun HefeiUniversity of Technology Hefei，Anhui，RR．China April，2016 万方数据  合肥工业大学 本论文经答辩委员会全体委员审查，确认符合合肥工业大 学学历硕士学位论文质量要求。 答辩委员会签名(工作单位、职称、姓名) 揣叶“穴多投 铿砼已 委员： 投六 敬旋 岁、街 钐力≠ 。移少|＼ 恫矽 b弋0 厶 谚工长 吲1‘毫龟 Ⅳ秀扩 导师：谛“N 两籼瞧．销～蚤． 万方数据  学位论文独创性声明 本人郑重声明：所呈交的学位论文是本人在导师指导下进行独立研究工作所 取得的成果。据我所知，除了文中特别加以标注和致谢的内容外，论文中不包含 其他人已经发表或撰写过的研究成果，也不包含为获得金罡王些太堂或其他教育 机构的学位或证书而使用过的材料。对本文成果做出贡献的个人和集体，本人已 在论文中作了明确的说明，并表示谢意。 学位论文中表达的观点纯属作者本人观点，与合肥工业大学无关。 学位论文作者签名：夏晚识 签名日期：上。I e年。耳月I 8日 学位论文版权使用授权书 本学位论文作者完全了解金肥工些盔学．．有关保留、使用学位论文的规 定，即：除保密期内的涉密学位论文外，学校有权保存并向国家有关部门或机构 送交论文的复印件和电子光盘，允许论文被查阅或借阅。本人授权金月曼王些太 学可以将本学位论文的全部或部分内容编入有关数据库，允许采用影印、缩印 或扫描等复制手段保存、汇编学位论文。 (保密的学位论文在解密后适用本授权书) 学位论文作者签名：囊疏幺 指导教师签名： 球|j≥扒 签名日期：工。f 6年D’月f?日 签名日期：√纠占年叩月f，日 论文作者毕业去向 工作单位： 联系电话： E—ma i 1： 通讯地址： 邮政编码： 万方数据  致谢 时光飞逝，研究生三年的学习生涯即将结束，回想这三年的校园时光，心中 充满感激之情，借此机会对所有给予我关心和帮助的人以诚挚的感谢。 首先，我衷心的感谢导师张仁斌副教授。张老师为人随和低调，对待学生认 真负责，总是从学生的角度思考问题：大一学生初入大学这个新鲜的环境，普遍 对未来存在迷茫感，而张老师作为大一学生的班主任，利用自己休息时间，请已 经参与工作的研究生为大一学生进行讲解，减少他们走弯路的时间。老师以其深 厚的理论和实践能力指导我们，从老师身上学到的不仅仅是专业知识和实践能 力，更重要的还有做人做事问心无愧。 其次，我要感谢我的同学们，在三年的生活中，我们互相关心、互相鼓舞、 互相支持。我还要感谢我的师兄师姐凌晋江、叶秋、汤倩，他们为人热情，耐心 详细的为我解答学术问题，在学习和科研上给予我非常大的帮助。 最后，我要感谢一直在我背后默默支持和关心我的家人们，在我遇到困难的 时候，他们教会我坚持和努力，是他们的默默支持和付出，给了我前进的动力。 作者：夏晓云 2016年4月5日 万方数据  摘要 随着液晶屏生产技术的不断发展，平板组件的尺寸越来越大，第六代液晶平 板的尺寸已达到1500mmx 1800ram，通过单台CCD相机已无法满足液晶屏缺陷 自动检测的精度和速度要求。要处理大视场和高精度检测带来的挑战，可行的方 法是采用多CCD全视场扫描成像方式，即：将多个线阵CCD相机排列成一行， 对单个液晶平板进行一个或多个来回高速扫描，随之产生的新问题是：从图像源 上产生大量分块的待检测图像。单台计算机以及嵌入式处理器处理能力有限，而 Hadoop是近年来一种主流的分布式存储和计算平台，具有巨大的存储能力和并 行计算能力等优势，可以为海量液晶屏图像分片的存储和处理提供有效的解决方 案。 本文的目标是基于Hadoop平台，研究液晶屏图像缺陷自动检测技术，利用 Hadoop存储能力和分布式处理技术提高缺陷检测的速度和正确率。本文将液晶 屏分布式缺陷检测和Hadoop框架相结合，做了以下工作： (1)对Hadoop平台进行详细研究和分析，主要分析了Hadoop分布式文件 系统HDFS和MapReduce并行计算框架，为液晶屏图像的分布式存储和处理奠 定理论基础和技术支撑。 (2)针对液晶屏缺