GBT 25184_X射张光电子能谱仪检定方法.pdf

ICS71．040．40 G04 a亘 中华人民共和国国家标准 25184—2010 cB／r X射线光电子能谱仪检定方法 for Verificationmethod photoelectron X-ray spectrometers 2010-09-26发布 宰瞀鹃紫瓣訾糌瞥星发布中国国家标准化管理委员会认1” 25184—2010I1l1345 25184—2010 useDeterminationDeterminationareaChemicaltoandofselectedchemicalchemicalchemicalelectronthe20175--2006chemicalISOISOISO19500--200418116instrumental MtN…U95badrR^E…drRe22v153．1E…25184—2010I．^“ A“A3A“R25184—2010iA AlAuAeKaKdCuL3VVCu417nZ483．9583．9583．96932．63932．62932．620．0200．0200．0520．0520．0200．0200．0570．057368．213567．93334．905．725184—201011．7 525184—2010 625184—201018116． m一1U9sCuo．0200．0740．0200．0787．1．9725184—2010l34m一20．9o．0200．0520．0200．0571．74．90．074O．0200．0785．70．0250．0520．0200．057 o80．17．1．5．17．1．6．125184—2010．--21 Au925184—2010 00400400407．1．8．1．125184—2010eV～1eV～1eV～11‘ 7．1．10．1 25184—201012 M一25184—2010 Al483400～14～854400～14～108725025184--201014 “ 25184—2010 7．2．2．4．125184—201017 932．7cu7．2．2．5．1eV25184—2010一i--118! 25184—201019 402290225184—2010141210 NISTMaterialsmm2～10mm2BCRz22keV～25nA～10‘nAnm～100and0．990．1284．70SRM2531-253659221925184—2010Institutel12310No．2611．09286．24keV0．85ofStandards288．66and MISTNIMCKRISSKRISSTa20Research9Standardsand603—-04—-1012135c．d．eSRMolofMaterials3013025184—2010Institute10