stm掃描穿隧顯微術之基本原理與架構.pptxVIP

STM掃描穿隧顯微術;源起;源起;掃描穿隧顯微術是利用 穿隧效應 的原理，當探針與樣品間距離很小時，在兩者之間加上微小電壓，則電子就會在樣品與探針間形成穿隧電流。 在古典力學中，一個處於位能較低的電子，不可能穿越能量障礙到達另一邊，除非給予的能量超過位能障，然而在量子力學的觀點來看，電子卻有可能越過能障到達另一邊，主要原因是電子同時具有粒子和波的行為如(圖一)。;(圖一) 樣品與探針之間存在一個位能障Vo示意圖;穿隧電流;STM的取像方式 (一)定電流取像法（constant current mode） ;(二)定高度取像法（constant height mode）;(三)電流密度取像法（current imaging tunneling spectroscopy, CITS）;(圖五) 掃描穿隧顯微儀器裝置圖;STM結構的示意圖 ;(1)掃描頭（scanner）:壓電材料不僅結構堅硬，用普通電壓源即可提供小於1埃的精確度，所以幾乎所有的掃描頭均以此???料製成。 (2)探針（tip）:一般都是用0.5mm的鎢（W）絲，以電化學的方法，在KOH或NaOH溶液中腐蝕。 (3)樣品台（sample stage） (4)步進器（stepper）:將探針和樣品的距離具有步距約在1000埃的功能，並且步進頻率必須能夠調節到1kHz。 (5)避震裝