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数字电路实验
实验一 门电路逻辑功能及测试
一、实验目的
1.熟悉门电路逻辑功能,掌握不同型号芯片的识别,各引脚功能以及接线方法
2.熟悉数字电路实验装置及数字式双踪示波器的使用方法。
二、实验仪器及材料
1.YLSD数字电路实验装置,数字式双踪示波器。
2.芯片:
74LS00 二输入端四与非门 2片
74LS20 四输入端双与非门 1片
74LS86 二输入端四异或门 1片
74LS04 六反相器 1片
三、预习要求
1.复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。
2.熟悉所用集成电路的引脚位置及各引脚用途。
3.了解数字式双踪示波器使用方法。
四、实验内容
实验前按学习机使用说明先检查学习机电源是否正常。然后选择实验用的集成电路,按自己设计的实验接线图接好连线,特别注意Vcc及地线不能接错。线接好后经实验指导教师检查无误方可通电实验。实验中改动接线须先断开电源,接好线后再通电实验。 1.测试门电路逻辑功能
(1).选用双四输入与非门74LS20一只.插入集成芯片的引脚座,按图1.1接线、输入端接S1~S4(电平开关输出插口),输出端接电平显示发光二极管(D1~D8任意一个)
(2).将电平开关按表1.l置位,分别测输出电压及逻辑状态。
表1.1
输入
输出
1
2
4
5
Y
电压(V)
H
H
H
H
L
H
H
H
L
L
H
H
L
L
L
H
L
L
L
L
2.异或门逻辑功能测试
图1.2
选二输入四异或门电路74LS86,按图1.2接线,输入端1、2、4、5接电平开关,输出端A、B、Y接电平显示发光二极管。
将电平开关按表1.2置位,将结果填入表中。
表1.2
输入
输出
1
2
4
5
A
B
Y
Y电压(V)
L
H
H
H
H
L
L
L
H
H
H
H
L
L
L
H
H
L
L
L
L
L
H
H
3. 逻辑电路的逻辑关系
按下面两个逻辑电路图写出Y、Z的逻辑表达式。
根据逻辑表达式,将输入输出逻辑关系分别填入表1.3、表1.4中。
表1.3
输入
输出
A
B
Y
L
L
H
H
L
H
L
H
图1.3 Y=?
输入
输出
A
B
Y
Z
L
L
H
H
L
H
L
H
表1.4
图1.4 Y=? Z=?
4. 逻辑门传输延迟时间的测量。
用六反相器(非门)按图1.5接线,输入200KHZ连续脉冲,用数字式双踪示波器测输入,输出相位差,计算每个门的平均传输延迟时间的pd值。
图1.5
5. 利用与非门控制输出。
用一片74LS00按图1.6(a)和
图1.6 (b)接线,A端输入低频可调连
续脉冲,S接任一电平开关,Y端接发
光二极管电平显示,观察S对输出脉
冲的控制作用。
6. 设计用与非门组成其它门电路
组成或非门 图1.6 (b)
用一片二输入端四与非门组成或非门
Y=== 画出电路图,测试并填表1.5
ABY0011
A
B
Y
0
0
1
1
0
1
0
1
输入
输出
A
B
Y
0
0
1
1
0
1
0
1
(2)组成异或门(只能用一片74LS00)
(a) 将异或门表达式转化为与非表达式。
(b) 再按与非表达式画出逻辑电路图。
(c) 按画出逻辑电路图连线测试并填表1.6
五、实验报告
1.按各步聚要求填表并画逻辑图。
2.回答问题:
(1) 怎样判断门电路逻辑功能是否正常?
(2) 与非门一个输入接连续脉冲, 其余端什么状态时允许脉冲通过?什么状态时禁止脉冲通过?
(3) 异或门又称可控反相门,为什么?
实验二 组合逻辑电路(半加器全加器及逻辑运算)
实验目的
1. 掌握组合逻辑电路的功能测试。
2. 验证半加器和全加器的逻辑功能。
3. 学会二进制数的运算规律。
实验仪器及材料
(1)YLSD数字电路实验装置。
(2)器件:
74LS00
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