示波器技术性能测试.pptVIP

实验一：示波器技术性能的测试 实验学时：3学时 实验类型：综合 实验要求：必修 一、实验目的： 1. 熟悉示波器主要技术性能和功能。 2. 掌握示波器主要技术性能的测试方法。 3. 建立校正测量仪器的概念。 二、实验内容： 测试示波器的偏转灵敏度、扫描速度、频带宽度和探头衰减比，体会示波器中同步和触发的作用，学会用外同步观察波形。 涉及到偏转灵敏度、扫描速度、频带宽度、外同步、内同步、移位寄存器、分频器等知识点。 三、实验原理、方法和手段： 1. 偏转灵敏度的定义：在单位信号电压作用下，光点在荧光屏上偏转的距离。它的倒数被称为偏转因数；单位为v/cm、mv/cm或v/div、mv/div。 2. 扫描速度或时基因数 扫描速度的定义：在扫描电压作用下，单位时间内电子射线沿荧光屏水平方向移动的距离，单位为cm/t、div/t，它的倒数是时基因数，表示光点在x方向移动1cm或1div所需的时间，单位为t/cm，t/div，时间t可以是s，ms或s。 示波器面板上扫描速度旋钮上有微调旋钮，当微调置于校准位置时，扫描速度旋钮所指示的数值才是实际的时基因数。 三、实验原理、方法和手段： 3. 频带宽度 频带宽度以3dB带宽定义；即输入信号幅度不变，频率变化时，荧光屏上显示的幅度相对于基准频率(中频段)幅度下降到 时对应的频率范围。 4. 示波器面板上有“电平／触发极性(LEVEL／SLOPE)”旋钮．转动该旋钮可改变触发信号的电平，旋钮处于推入状态时为正向触发，拉出时为负向触发。 三、实验原理、方法和手段： 5. 实验中用C185（CC14526）集成电路作分频器。C185（CC14526）为可预置数的4位二进制1/N计数器 三、实验原理、方法和手段： 6. 74LS164是8位移位寄存器，它的逻辑图，功能表如下图： 四、实验步骤： 1. 了解高频信号发生器的性能与使用方法： 用高频信号源的0—1V输出端输出高频信号，用示波器观察高频信号发生器的正弦波输出和调幅波输出，观察改变调制度时波形的变化。 四、实验步骤： 2．熟悉触发器正负极性及触发电平的功能： 用高频信号源输出正弦波，用示波器进行观察。当示波器上出现清晰的波形后，适当将波形右移，使波形的起始端出现在屏幕上。改变触发极性，即将触发极性钮拉出或推入，观察波形的变化。再转动触发电平旋钮，观察波形变化。 四、实验步骤： 3．测试偏转灵敏度： 使高频信号源输出正弦波信号，频率为100KHz，调节输出幅度，用超高频毫伏表测量，使之为0.5V。示波器探头置于×1档，偏转因数选择开关置于0.2V/cm，微调钮置于“校准”(CAL)。将信号源输出接入示波器，从荧光屏上读出信号幅度的格数，记录在表1-1中，计算出偏转因数，与选择开关指示值(0.2V/cm)比较。 将信号幅度改为0.1V，示波器偏转因数选择开关置于50mv/cm，重复上面的测量。 四、实验步骤： 表1-1 偏转因数测量数据 四、实验步骤： 4．测试扫描速度： 示波器的扫描速度开关置于0.2ms，扫描微调置于校正(CAL)，输入函数发生器的1KHz方波。测出一个信号周期T所占的水平格数，则可算出扫描速度=T/格数，与扫描速度选择开关指示值(0.2ms)相比较，计算出相对误差。记录在表1-2中。 将输入信号改为2KHz，扫描速度选择开关置于0.1ms，重复上面的测量。 四、实验步骤： 表1-2 扫描速度数据表 四、实验步骤： 5．测试通频带： 高频信号源产生正弦信号输入到示波器中，用超高频毫伏表测量输出幅度。改变正弦波频率，保持有效值始终为0.5V，记录下不同频率时，示波器荧光屏上的幅度值。注意在频率上升到高端，荧光屏上信号幅度下降时，应适当多读一些数据。将读得数据记入表1-3中，并在方格纸上画出频率特性曲线。 四、实验步骤： 表1-3 通频带测量数据表 四、实验步骤： 6. 用外同步方式和内同步方式观察移位寄存器的输出波形（选做）。 CD14526接成十六分频状态，0c端输出；74LS164是移位寄存器。用函数发生器400KHz信号作为时钟输入（电路框图如下图），用示波器观察如下信号波形： ① 以0c（进位端）信号为外同步信号，观察C164的QA、QB、QC、QD……的波形（分正触发和负触发二种情况）。 ② 在内同步方式下，观察以上四个点和0c点的波形（正负触发），比较分析二种观察方法。 ③ 用双线显示来比较0c点和其他各Q点的波形，观察不同触发信号时波形的同步情况。 四、实验步骤： 五、思考题： 1