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2018-12-30 发布于湖北
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线缆测试仪设计.doc

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线缆测试仪毕业论文题目：线缆测试仪设计目录 TOC \o 1-3 \h \z \u HYPERLINK \l _Toc214839736 HYPERLINK \l _Toc214839737 HYPERLINK \l _Toc214839738 HYPERLINK \l _Toc214839740 1 绪论 PAGEREF _Toc214839740 \h 1 HYPERLINK \l _Toc214839741 1.1线缆组试仪的设计背景 PAGEREF _Toc214839741 \h 1 HYPERLINK \l _Toc214839742 1.2研究目的和意义 PAGEREF _Toc214839742 \h 1 HYPERLINK \l _Toc214839743 目的： PAGEREF _Toc214839743 \h 1 HYPERLINK \l _Toc214839744 1.3国内外现状和发展趋势 PAGEREF _Toc214839744 \h 2 HYPERLINK \l _Toc214839745 1.4主要研究的内容是： PAGEREF _Toc214839745 \h 2 HYPERLINK \l _Toc214839746 2.MCU及AVR的选择 2.1 MCU的选型 PAGEREF _Toc214839746 \h 3 HYPERLINK \l _Toc214839747 2.1.1．单片机的类型 PAGEREF _Toc214839747 \h 3 HYPERLINK \l _Toc214839748 2.1.2．本系统中MCU的选择方案 PAGEREF _Toc214839748 \h 3 HYPERLINK \l _Toc214839749 2.1.4单片机编译器的选择 PAGEREF _Toc214839749 \h 5 HYPERLINK \l _Toc214839750 2.2 AVR单片机的优势特征 PAGEREF _Toc214839750 \h 6 HYPERLINK \l _Toc214839751 2.3 AVR单片机现状 PAGEREF _Toc214839751 \h 3 HYPERLINK \l _Toc214839752 2.4 AVR单片机的发展现状 PAGEREF _Toc214839752 \h 8 HYPERLINK \l _Toc214839753 3. CPLD和SPI介绍 PAGEREF _Toc214839753 \h 8 HYPERLINK \l _Toc214839754 3.1 CPLD的介绍 PAGEREF _Toc214839754 \h 8 HYPERLINK \l _Toc214839755 3.2 SPI的介绍 PAGEREF _Toc214839755 \h 8 HYPERLINK \l _Toc214839756 4系统设计 PAGEREF _Toc214839756 \h 13 HYPERLINK \l _Toc214839757 4.1系统工作原理 PAGEREF _Toc214839757 \h 13 HYPERLINK \l _Toc214839758 4.2 系统硬件设计 PAGEREF _Toc214839758 \h 14 HYPERLINK \l _Toc214839759 4.2.1 通断测试单元通断测试原理 PAGEREF _Toc214839759 \h 14 HYPERLINK \l _Toc214839760 4.2.2 通断测试电路 PAGEREF _Toc214839760 \h 14 HYPERLINK \l _Toc214839761 4.2.3 环路电阻，电压测试设计 PAGEREF _Toc214839761 \h 16 HYPERLINK \l _Toc214839762 4.2.4 电容测试设计 PAGEREF _Toc214839762 \h 16 HYPERLINK \l _Toc214839763 4.2.5 通道切换，驱动控制电路设计 PAGEREF _Toc214839763 \h 17 HYPERLINK \l _Toc214839764 4.3 系统软件设计 PAGEREF _Toc214839764 \h 17 HYPERLINK \l _Toc214839765 5线缆测试仪测试分析 PAGEREF _Toc214839765 \h 18 HYPERLINK \l _Toc214839766 5.1线缆测