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C56X10(X=F,Cl,Br,I)的结构稳定性和电子性质
物理化学学报(Wuli Huaxue Xuebao)
February Acta Phys. Chim. Sin., 2010, 26(2) :461-465 461
[Article]
C X (X=F, Cl, Br, I)的结构稳定性和电子性质
56 10
青松1,* 邓开明2
(1 京理工大学泰州科技学院, 江苏泰州 225300; 2 京理工大学应用物理系, 南京 210094)
摘要: 采用密度泛函理论(DFT) 中的广义梯度近似(GGA)方法对C X (X=F, Cl, Br, I) 的结构稳定性和电子性
56 10
质进行了计算研究. 结构稳定性计算表明: 对于C X (X=F, Cl, Br, I), 能隙、反应热、最大振动频率和最小振动频
56 10
率都随着X 原子序数的增加而减小, 表明C X (X=F, Cl, Br, I) 的稳定性随着X 原子序数的增加而逐渐降低, 其
56 10
中C F 最为稳定. 前人在实验上已成功合成出C Cl , 因此, 我们推 C F 有望在实验上成功合成. 前线轨道
56 10 56 10 56 10
计算发现, C56 相邻的五边形公共顶点以及两个六边形 五边形六边形公共顶点是笼子中化学活性最强的部位,
有利于卤族元素的外部吸附. 此外, 计算结果还显示, C X (X=F, Cl, Br, I) 的电负性随着X 原子序数的增大而逐
56 10
渐减弱, C—X 基团的电负性因位置的不同而不同.
关键词: 密度泛函理论; 富勒烯; C ; C X ; 电子结构
56 56 10
中图分类号: O641
Structure Stability and Electronic P
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