低能X射线下线阵塑料闪烁光纤的传输特性分析.PDF

第36 卷 第11 期 核 技 术 Vol. 36, No.11 2013 年11 月 NUCLEAR TECHNIQUES November 2013 低能X 射线下线阵塑料闪烁光纤的传输特性分析 马庆力 吴彦华 （合肥电子工程学院 合肥 230038 ） 摘要 通过对塑料闪烁光纤阵列在一定能量范围X 射线的研究，分析了利用闪烁光纤阵列作为工业成像探测 器的一些传输特性。采用基于蒙特卡罗(MCNP)的模拟方法，分析了闪烁光纤在各种射线能量和强度下的信息， 并且模拟计算了表征图象质量的信噪比(SNR)、探测量子效率(DQE) 以及探测效率(DE) 。 关键词 信噪比(SNR)，探测量子效率(DQE)，闪烁光纤阵列，成像探测器，Geant4 中图分类号 TN25 ，TP751 DOI: 10.11889/j.0253-3219.2013.hjs.36.110402 [3] 射线成像探测器既有线阵成像，也有面阵成像， 出信号；N 和N 分别为输入和输出噪声 。模拟时 i o 这两者在应用上存在各自的优缺点。线阵成像最大 对SNRi 和SNRo 的定义实际上是对入射粒子和与闪 的优点表现在阵列中光纤与光纤之间的散射和串扰 烁光纤发生作用粒子的数目进行统计，其中在试验 较面阵要小很多，而散射和串扰也恰恰是决定成像 能量范围下与光纤发生的作用包括光电效应和康普 对比度和空间分辨率大小的主要因素。因此选择线 顿散射。由于统计上的波动导致闪烁光纤中能量沉 阵闪烁光纤阵列来研究成像。采用欧洲核子中心 积的波动，从而产生噪声。 (CERN)开发的基于蒙特卡罗(MCNP)方法的模拟包 1.2 探测器效率 Geant4.5.1 对粒子进行跟踪，从而得到闪烁光纤输 出端的可见光子信息。这些信息是研究光电倍增管 探测器效率是成像探测器的一个极为重要的参 或CCD 探测器输出的重要依据。 数。在测量探测器效率上一般有两种不同的方法。 模拟中采用的闪烁光纤类型是BCF-20[1]，其特 一种是探测量子效率(DQE)法，它是考虑由于射线 性是产生2.5 eV 的可见光子。光纤直径为0.25 mm， 与闪烁光纤产生作用的次数会出现随机波动，并且 这个尺寸对于一般无损探伤已足够小。为了避免由 这种波动分布一般符合泊松分布。通过式(1)得到 于被照射物体而导致的剧烈散射，因此设定被照射 DQE ： 物体直线排列，并采用点光源，多种能量的射线束 2 2 DQE (SNR ) /(SNR ) (1) o i 呈扇型排列。 另一种方法是考虑闪烁光纤在射线辐照下的能