基于fpga的ⅱc在线测试系统-控制科学与工程专业论文.docxVIP

分类号： 分类号： 学校代号： 11845 UDC： 密级： 学 号： 21l 1203056 广东工业大学硕士学位论文 (工学硕士) 基于FPGA的IIC在线测试系统 梁泽雨 指导教师姓名、职称： 学科(专业)或领域名称： 学生所属学院： 论文答辩日期： 万方数据 Classified Classified Index： School Code：11 845 UDC： Security ClaS s．——Class No．：21 1 1203056 A Dissertation for Master’S Degree of Guangdong University of Technology (Master of Engineering Science) IIC online testing system based on FPGA Master Candidate：Liang Zeyu Supervisor：Assoc．PrOf．Pang Qing June 2015 School of Information Engmeermg Guangdong University ofTechnology Guangzhou， Guangdong，P．R．China， 5 10006 万方数据 摘要摘要 摘要 摘要 随着半导体工艺设计规模的不断增加，芯片的集成度和复杂度不断增大，芯片的 测试变得复杂而耗时，这将严重阻碍半导体行业的发展。在集成电路领域中，芯片的 测试占据整个芯片开发周期的70％以上。因此，快速精确实现对芯片的测试己成为我 们急需解决的问题。 传统的芯片测试主要依靠示波器和信号发生器等测试仪器，通过人手工实现对芯 片的各个接口进行测试，市场上的示波器和信号发生器并不是针对芯片测试领域而设 计的，因而这种测试方法测试项单一，测试流程复杂、耗时。现有的EDA验证软件的 验证功能往往很局限，根本无法满足大规模的集成电路测试要求。因此，本文提出的 是一种基于FPGA平台的IIC在线测试系统，该系统率先通过设计码型发送器与码型接 收器实现对芯片IIC总线接口的测试，该系统的测试项达二十多项，测试项全面，并且 测试的工作量大大减少。整个测试流程在PC机通过使用TCL脚本控制系统工作，实现 测试全自动化，在线得到测试结果。该系统测试准确可靠并且完全摆脱对示波器、信 号发生器等测试仪器的依懒，不仅能够实现IIC波形的重现，并且能够得到精确的测试 结果。 本文通过对5560X芯片的IIC接口的成功测试，证实了本系统的准确性和可行性。 本文目前虽然只支持IIC接口的测试，但在其设计初期己将各类总线的测试考虑在内， 如SPI、LOCALBUS和MDIO总线等。本系统具很强的扩展性，并且设计思路新颖，系 统在设计初期并没有将各类总线特殊化，而是将各类总线根据其通信的信号线数进行 划分，采用码型多变，硬件设计模块少变的方法实现对各类总线的测试。本系统的提 出，将有效解决了芯片验证领域中操作过于复杂、测试的时间过长的问题，很具实用 前景。 关键词：FPGA；TCL；IIC； 万方数据 广东工业大学硕士学位论文AB 广东工业大学硕士学位论文 AB STRACT With the increasing ofthe design for the semiconductor，the IC chip are becoming more and more complex，and the chip testing will become more complex and it will take lots of time，which will seriously hinder the development of semiconductor industry．In the field of integrated circuits，The test of the chip occupies 70％ofthe development cycle for the chip． Therefore，how to fast and accurate realization of the test of the chip has become the urgent problem we need to solve． Traditional chip testing are mainly rely on the oscilloscope and signal generator， and each interface of the chip is tested by manual，the oscilloscope and signal generator in the